[发明专利]一种生产计算机显卡的高度检测装置在审

专利信息
申请号: 202210109152.X 申请日: 2022-01-28
公开(公告)号: CN114563037A 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 宋彬彬 申请(专利权)人: 德州职业技术学院(德州市技师学院)
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 邓建国
地址: 253011 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 生产 计算机 显卡 高度 检测 装置
【说明书】:

发明属于计算机显卡技术领域,尤其为一种生产计算机显卡的高度检测装置。包括底板,所述底板顶面的一侧固定连接有检测机台,所述检测机台的中部固定有A轴电机,所述A轴电机的输出轴串接固定有第一同步轮,所述检测机台顶端的中部通过轴承转动嵌合有U型安装架,所述U型安装架的一端串接固定有第二同步轮,所述第一同步轮和第二同步轮之间绕接有同步带,所述U型安装架的槽口中固定连接有分度箱,所述分度箱的输入轴固定连接有B轴电机。本发明通过A轴电机和B轴电机带动相应的传动部件,带动高度检测仪任意的设定角度的转动,对计算机显卡的顶面高度、底面高度和两侧高度以及其它任意角度的高度进行检测。

技术领域

本发明涉及计算机显卡技术领域,具体为一种生产计算机显卡的高度检测装置。

背景技术

计算机显卡是计算机最基本的组成部件之一,其用途是将计算机系统所需要的显示信息进行转换驱动显示器,并向显示器提供逐行或隔行扫描信号,控制显示器的正确显示,是连接显示器和计算机主板的重要组件,其内置的并行计算能力现阶段也用于深度学习,因此显卡的生产也是当前重要的产业。目前,计算机显卡在生产过程中检测各个零部件的高度时,尤其是在对正反面零部件高度的检测,不能通过同一个测试仪表进行检测,容易发生偏差;即现有的检测机械只能对同一方向上的零件高度进行检测,例如只能对X轴向的零件高度进行检测,不能对其它的轴,例如Y轴和Z轴向的零件宽度、厚度进行检测;此外,在对显卡高度进行检测时,检测区域的空气洁净度和温湿度对检测结果也有很多的影响,要使得检测的数据更加真实,就要控制检测区域的温湿度和空气洁净度,而目前的检测设备都不具备空气净化和温湿度调节的控制措施。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本发明提供了一种生产计算机显卡的高度检测装置,解决了上述背景技术中所提出的问题。

(二)技术方案

本发明为了实现上述目的具体采用以下技术方案:

一种生产计算机显卡的高度检测装置,包括底板,所述底板顶面的一侧固定连接有检测机台,所述检测机台的中部固定有A轴电机,所述A轴电机的输出轴串接固定有第一同步轮,所述检测机台顶端的中部通过轴承转动嵌合有U型安装架,所述U型安装架的一端串接固定有第二同步轮,所述第一同步轮和第二同步轮之间绕接有同步带,所述U型安装架的槽口中固定连接有分度箱,所述分度箱的输入轴固定连接有B轴电机,所述分度箱的输出轴固定连接有分度盘,所述分度盘的顶面固定连接有检测滑槽,所述检测滑槽的一端固定连接有C轴电机,所述检测滑槽内活动嵌合有检具安装座,所述检具安装座的正面固定连接有高度检测仪,所述C轴电机的输出轴固定连接有C轴丝杆,所述C轴丝杆螺合连接所述检具安装座。

进一步地,所述底板的另一侧通过侧边板固定连接有Z轴电机,所述Z轴电机的输出轴固定连接有Z轴丝杆,所述Z轴丝杆的两侧平行固定有导向杆,两根导向杆的中部活动嵌合有X轴滑槽,所述Z轴丝杆螺合连接X轴滑槽的底端,所述X轴滑槽上端的槽口中活动嵌合有X轴滑块,所述X轴滑槽的前端固定连接有X轴电机,所述X轴电机的输出轴固定连接有X轴丝杆,所述X轴丝杆螺合连接所述X轴滑块的底端,所述X轴滑块顶端的开口活动嵌合有Y轴升降柱,所述X轴滑块的内壁固定连接有Y轴电机,所述Y轴电机的输出轴固定连接有Y轴丝杆,所述Y轴丝杆螺合连接所述Y轴升降柱底端的中心螺孔,所述Y轴升降柱的顶端固定连接有检测安装盘,所述检测安装盘的边侧开设有显卡定位槽,所述检测安装盘顶面的中部固定连接有通电检测模块,所述通电检测模块的边侧开设有检测接口,所述检测接口与显卡定位槽中定位放置的被测显卡接头相适配。

进一步地,所述底板的边侧固定连接有透明机罩,所述透明机罩的正面开设有操作口,操作口铰接有密封门,所述透明机罩的底侧开设有进气孔,进气孔密封嵌合连接有滤网,进气孔的内侧设置有空气探测器和风量探测器,所述透明机罩的顶端开设有出气孔,出气孔上固定连接有抽风机,所述透明机罩的内壁固定安装有温湿度检测器。

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