[发明专利]一种磁球校准方法和磁球校准装置在审
申请号: | 202210104801.7 | 申请日: | 2022-01-28 |
公开(公告)号: | CN114468945A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 王廷旗;段晓东 | 申请(专利权)人: | 上海安翰医疗技术有限公司 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00;A61B1/04;A61B1/045 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;张靖琳 |
地址: | 200120 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校准 方法 装置 | ||
1.一种磁球校准方法,其特征在于,包括以下步骤:
磁球绕第一轴转动第一角度,获取转动过程中检测位置处的三轴磁场分量的检测数据,所述第一角度大于或等于180°;
根据检测数据获取所述磁球在第二轴方向上磁场强度分量为零的零点位置P0;
根据所述检测数据和所述零点位置P0,得到所述磁球的校准位置;
根据磁球的校准位置,校准磁球;
其中,所述磁球位于所述校准位置时,所述磁球的磁极化方向与第二轴重合;
所述第一轴与所述第二轴相互垂直;
所述三轴磁场分量包括X轴磁场分量、Y轴磁场分量和Z轴磁场分量;
所述Z轴磁场分量的方向与所述第二轴的方向重合;所述Y轴磁场分量与所述第一轴的方向重合。
2.根据权利要求1所述的磁球校准方法,其特征在于,根据检测数据获取所述磁球在第二轴方向上磁场强度分量为零的零点位置P0包括:
获取磁球绕第一轴旋转过程中检测位置处、磁场强度变化的多组检测数据;
根据检测数据,获取每组检测数据在第二轴方向上磁场强度分量;
判断第二轴方向上磁场强度分量是否为0,得到第二轴方向上磁场强度分量为0的零点位置P0。
3.根据权利要求1所述的磁球校准方法,其特征在于,根据检测数据获取所述磁球在第二轴方向上磁场强度分量为零的零点位置P0包括:
根据检测数据,获取在第二轴方向上的磁场分量接近零的位置为近零点位置P1;
以近零点位置P1作为零点位置P0。
4.根据权利要求2或3所述的磁球校准方法,其特征在于,所述根据所述检测数据和所述零点位置P0,得到所述磁球的校准位置包括:
在所述磁球转动绕第一轴转动第一角度过程中,判断所述零点位置P0的数据方向;
根据所述零点位置P0数据方向、所述零点位置P0和检测数据,得到磁球的第一校准位置V0和第二校准位置H0。
5.根据权利要求4所述的磁球校准方法,其特征在于,所述根据所述检测数据和所述零点位置P0,计算得到所述磁球的校准位置还包括:
当所述零点位置P0数据方向由正到负时,所述第一校准位置V0=α-90°,所述第二校准位置H0=-β;
当所述零点位置P0数据方向由负到正时,所述第一校准位置V0=α+90°,所述第二校准位置H0=180°-β,
其中,所述零点位置P0处的所述三轴磁场分量为(bxi,byi,bzi);
α为所述磁球到达所述零点位置P0时转动的角度;
β为所述零点位置P0处x方向分量bxi和y方向分量byi之间的夹角。
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