[发明专利]一种水工环地质剖面测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210073601.X 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114413842A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 黄静波;王欣然 申请(专利权)人: 山东省物化探勘查院
主分类号: G01C7/02 分类号: G01C7/02;G01N1/08
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 朱亚辉
地址: 250000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 水工 地质 剖面 测量 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种水工环地质剖面测量装置及方法包括测量装置固定座、固定支撑脚、取样杆固定外壳、地质取样装置、控制装置、电子测量设备,固定支撑脚通过活动旋钮与测量装置固定座连接,保证测量人员可以根据取样地形的不同调节固定支撑脚的角度,保证测量装置可以稳定的固定在取样点,固定支撑脚的端部为锥形尖角,通过锥形尖角可以将固定支撑脚嵌入土地中,有效防止取样过程中测量装置发生移动,保证地质剖面测量的效率,通过控制装置使得取样装置进入地质进行取样,不需要人工手动取样,降低了测量人员的工作强度,通过入土锥和取样板配合取样,保证了地质剖面采样的完整性,且取土便捷,使得剖面测量更为完善,提高了测量的准确性。

技术领域

本发明涉及测量技术领域,具体为一种水工环地质剖面测量装置及方法。

背景技术

地质剖面测量是按地质勘探要求,沿勘探线或某给定方向进行的剖面测量工作,目的在于提供勘探设计、工程布设、储量计算和综合研究的资料,包含内容主要为确定剖面端点,根据剖面长度设置控制点和在其问设置测站点,在测站点上进行剖面测量,测定剖面方向上的工程点、地质点、地物点、地貌点的平面位置和高程,进行剖面计算及绘制剖面图,一般包括剖面定线测量、剖面控制测量、地形剖面测量、剖面点测量和剖面计算及剖面图的绘制。

目前地质剖面测量装置对地质样本的采集经常不够完整,且取土操作繁琐,耗时耗力,测量结果不准确。

发明内容

本发明的目的在于提供一种水工环地质剖面测量装置及方法,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种水工环地质剖面测量装置及方法包括测量装置固定座、固定支撑脚、取样杆固定外壳、地质取样装置、一号控制装置、二号控制装置、电子测量设备、测量设备转轴,所述测量装置固定座的底部设置有三个固定支撑脚,所述测量装置固定座的底部中间设置有取样杆固定外壳,所述取样杆固定外壳的内部中间设置有地质取样装置,所述地质取样装置的两端连接有一号控制装置和二号控制装置,所述一号控制装置和二号控制装置固定在测量装置固定座的底部,所述测量装置固定座的顶部设置有测量设备转轴,所述测量设备转轴上设置有电子测量设备。

优选的,所述固定支撑脚的一端通过活动旋钮与测量装置固定座连接,所述固定支撑脚的另一端为锥形尖角,每个所述固定支撑脚之间的夹角为°。

优选的,所述取样杆固定外壳的前后两侧设置有取样窗口,所述取样杆固定外壳的左右两侧设置有压杆活动口。

优选的,所述地质取样装置包括取样入土锥、取样板,所述取样板的底部设置有取样入土锥,所述取样板上设置有取样槽。

优选的,所述一号控制装置包括取样压杆、升降驱动装置、升降杆,所述升降杆的底部与取样压杆连接,所述升降杆的顶部与升降驱动装置连接,所述取样压杆与地质取样装置连接,所述一号控制装置和二号控制装置的结构相同。

优选的,步骤:将本装置通过固定支撑脚固定在取样点;

步骤:所述一号控制装置和二号控制装置控制取样压杆将地质取样装置向下压制进行取样;

步骤:取样后,所述一号控制装置和二号控制装置将地质取样装置从取样点中取出,取样板的取样槽内有地质样本。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

(1)本发明的固定支撑脚通过活动旋钮与测量装置固定座连接,保证测量人员可以根据取样地形的不同调节固定支撑脚的角度,保证测量装置可以稳定的固定在取样点。

(2)本发明的固定支撑脚的端部为锥形尖角,通过锥形尖角可以将固定支撑脚嵌入土地中,有效防止取样过程中测量装置发生移动,保证地质剖面测量的效率。

(3)本发明在地质取样装置的两侧设置有控制装置,通过控制装置使得取样装置进入地质进行取样,不需要人工手动取样,降低了测量人员的工作强度。

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