[发明专利]应力传感器和用于求取梯度补偿的机械应力分量的方法在审
申请号: | 202210065951.1 | 申请日: | 2022-01-20 |
公开(公告)号: | CN114812877A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | M·莫茨 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | G01L1/18 | 分类号: | G01L1/18;G01L9/06 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;闫昊 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应力 传感器 用于 求取 梯度 补偿 机械 分量 方法 | ||
1.一种基于晶体管的应力传感器(10),具有:
半导体衬底(20),具有第一MOS晶体管装置(11)和第二MOS晶体管装置(12),
其中所述第一MOS晶体管装置(11)具有带有第一源极漏极沟道区(23)的第一MOS晶体管(1)和带有第二源极漏极沟道区(33)的第二MOS晶体管(2),其中所述第一MOS晶体管(1)和所述第二MOS晶体管(2)相互取向成使得所述第一源极漏极沟道区(23)中的电流流动方向(24)与所述第二源极漏极沟道区(33)中的电流流动方向(34)相反,并且
其中所述第二MOS晶体管装置(12)具有带有第三源极漏极沟道区(43)的第三MOS晶体管(3)和带有第四源极漏极沟道区(53)的第四MOS晶体管(4),其中所述第三MOS晶体管(3)和所述第四MOS晶体管(4)相互取向成使得所述第三源极漏极沟道区(43)中的电流流动方向(44)与所述第四源极漏极沟道区(53)中的电流流动方向(54)相反,
其中所述基于晶体管的应力传感器(10)提供梯度补偿的输出信号,所述输出信号用于确定作用在所述半导体衬底(20)上的至少一个机械应力分量。
2.根据权利要求1所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中在所述第一源极漏极沟道区(23)中的电流流动方向(24)以相对于所述半导体衬底(20)的初级平面的法线的第一角度(Φ1)延伸,并且
其中在所述第三源极漏极沟道区(43)中的电流流动方向(44)以相对于所述半导体衬底(20)的初级平面的法线的第二角度(Φ2)延伸,
其中所述第一角度(Φ1)和所述第二角度(Φ2)彼此垂直。
3.根据权利要求2所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一角度(Φ1)是+45°,并且其中所述第二角度(Φ2)是-45°,并且
其中所述基于晶体管的应力传感器(10)被设计成确定作用在所述半导体衬底(20)上的机械剪应力分量(σXY、σYZ、σXZ)。
4.根据权利要求3所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)和所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)分别是n沟道型。
5.根据权利要求2所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一角度(Φ1)是90°,并且其中所述第二角度(Φ2)是0°,并且
其中所述基于晶体管的应力传感器(10)被设计成确定作用在所述半导体衬底(20)上的机械应力分量差(σXX-σYY)。
6.根据权利要求5所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)和所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)分别是p沟道型。
7.根据前述权利要求中任一项所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一MOS晶体管装置(11)在所述衬底平面中与所述第二MOS晶体管装置(12)点对称地布置。
8.根据前述权利要求中任一项所述的基于晶体管的应力传感器(10),
其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)的漏极端子(22、32)互相连接,并且
其中所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)的漏极端子(42、52)互相连接。
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