[发明专利]应力传感器和用于求取梯度补偿的机械应力分量的方法在审

专利信息
申请号: 202210065951.1 申请日: 2022-01-20
公开(公告)号: CN114812877A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: M·莫茨 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;G01L9/06
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;闫昊
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 应力 传感器 用于 求取 梯度 补偿 机械 分量 方法
【权利要求书】:

1.一种基于晶体管的应力传感器(10),具有:

半导体衬底(20),具有第一MOS晶体管装置(11)和第二MOS晶体管装置(12),

其中所述第一MOS晶体管装置(11)具有带有第一源极漏极沟道区(23)的第一MOS晶体管(1)和带有第二源极漏极沟道区(33)的第二MOS晶体管(2),其中所述第一MOS晶体管(1)和所述第二MOS晶体管(2)相互取向成使得所述第一源极漏极沟道区(23)中的电流流动方向(24)与所述第二源极漏极沟道区(33)中的电流流动方向(34)相反,并且

其中所述第二MOS晶体管装置(12)具有带有第三源极漏极沟道区(43)的第三MOS晶体管(3)和带有第四源极漏极沟道区(53)的第四MOS晶体管(4),其中所述第三MOS晶体管(3)和所述第四MOS晶体管(4)相互取向成使得所述第三源极漏极沟道区(43)中的电流流动方向(44)与所述第四源极漏极沟道区(53)中的电流流动方向(54)相反,

其中所述基于晶体管的应力传感器(10)提供梯度补偿的输出信号,所述输出信号用于确定作用在所述半导体衬底(20)上的至少一个机械应力分量。

2.根据权利要求1所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中在所述第一源极漏极沟道区(23)中的电流流动方向(24)以相对于所述半导体衬底(20)的初级平面的法线的第一角度(Φ1)延伸,并且

其中在所述第三源极漏极沟道区(43)中的电流流动方向(44)以相对于所述半导体衬底(20)的初级平面的法线的第二角度(Φ2)延伸,

其中所述第一角度(Φ1)和所述第二角度(Φ2)彼此垂直。

3.根据权利要求2所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一角度(Φ1)是+45°,并且其中所述第二角度(Φ2)是-45°,并且

其中所述基于晶体管的应力传感器(10)被设计成确定作用在所述半导体衬底(20)上的机械剪应力分量(σXY、σYZ、σXZ)。

4.根据权利要求3所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)和所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)分别是n沟道型。

5.根据权利要求2所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一角度(Φ1)是90°,并且其中所述第二角度(Φ2)是0°,并且

其中所述基于晶体管的应力传感器(10)被设计成确定作用在所述半导体衬底(20)上的机械应力分量差(σXXYY)。

6.根据权利要求5所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)和所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)分别是p沟道型。

7.根据前述权利要求中任一项所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一MOS晶体管装置(11)在所述衬底平面中与所述第二MOS晶体管装置(12)点对称地布置。

8.根据前述权利要求中任一项所述的基于晶体管的应力传感器(10),

其中所述第一MOS晶体管装置(11)的MOS晶体管(1、2)的漏极端子(22、32)互相连接,并且

其中所述第二MOS晶体管装置(12)的MOS晶体管(3、4)的漏极端子(42、52)互相连接。

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