[发明专利]一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测装置及方法

权利要求书

1.一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测方法，其特征在于：

包括检测大尺寸环状T型结构精度的装置，该装置包括立车（6）；

所述立车（6）水平设置有横梁（4），所述横梁（4）上垂直设有刀头（2）所述刀头（2）的一侧装配有检测装置；

所述横梁（4）下端设有圆型转台（5），所述转台（5）设有以转台（5）圆心为基点向四周射散的承托梁（5.1），所述承托梁（5.1）用于承托大尺寸高精度环状T型结构（1），所述承托梁（5.1）末端均活动安装有夹具（7）；

所述夹具（7）用于夹装大尺寸高精度环状T型结构（1）对其进行限位；所述承托梁（5.1）上垂直设有标定杆（9），所述标定杆（9）用于与检测装置相配合来校对大尺寸高精度环状T型结构（1）的摆放位置；

还包括利用线激光方法来进行环状T型结构尺寸及工艺参数的精密检测；

a、对大尺寸高精度环状T型结构（1）限位做十六等分；

将加工完成后的大尺寸高精度环状T型结构（1）以平放的方式装夹在转台（5）上，并在所述转台（5）外端用夹具（7）将其限位固定，将其做十六等分，等分点均位于两夹具（7）中间部位，并用样冲做冲眼标记；

b、拆除夹具（7），撤除大尺寸高精度环状T型结构（1）受到的挤压应力；

撤除夹具（7）工装，使所述大尺寸高精度环状T型结构（1）处于自由状态下测量，不得有强制挤压应力；

c、清除大尺寸高精度环状T型结构（1）表面污垢；

检查大尺寸高精度环状T型结构（1）表面清洁度，清除油污、氧化皮等杂物，避免影响测量精度；

d、装配检测装置并连通检测系统，所述检测装置包括支架（8）及三台3D相机（3）；

e、调整检测装置；

调整支架（8）长度，三台3D相机（3）分别位于大尺寸高精度环状T型结构（1）腹板上表面、平行位置及腹板下表面；

f、大尺寸高精度环状T型结构（1）摆放位置校准；

大尺寸高精度环状T型结构摆放位置校准：用3D相机3的发射的线激光标定转台（5）圆心与标定杆（9）的距离；

g、再次调整检测装置；

h、将大尺寸高精度环状T型结构（1）三维模型导入检测系统并将三维模型进行十六等分，在检测系统中对检测参数进行设置；

i、检测系统对数据进行采集；

数据采集：选择大尺寸高精度环状T型结构（1）三维模型上的任一等分点，同时在大尺寸高精度环状T型结构（1）上标记，启动立车（6），所述立车（6）控制转台（5）旋转一周，旋转开始时检测系统开始记录测量数据；

j、检测系统输出参数数据，得到检测后的参数数据；

k、对测得的参数与标准对比进行合格判定；

所述大尺寸高精度环状T型结构（1）通过检测得到的参数与标准尺寸参数的误差不大于0.1mm环状T型结构构件判定合格。

2.根据权利要求1所述的一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测方法，其特征在于：

所述方法d中，检测装置由三台3D相机（3）设置在支架（8）上，并通过螺钉连接组装以便于对3D相机（3）的角度及位置进行调整，再将所述检测装置安装到刀头（2）位置，所述支架（8）可与刀头（2）相对移动，其中3D相机（3）均与电源线连接并与检测系统连通，用于采集3D图像。

3.根据权利要求1所述的一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测方法，其特征在于：

所述方法g中的调整检测装置为调整3D相机（3）位置，使得上下二台3D相机（3）的激光覆盖大尺寸高精度环状T型结构（1）面板的上、下位置，中间一台3D相机（3）的激光线和大尺寸高精度环状T型结构（1）腹板水平。

4.根据权利要求1所述的一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测方法，其特征在于：

所述方法h中的设置的检测参数为大尺寸高精度环状T型结构（1）的型号及坡口类型。

5.根据权利要求1所述的一种大尺寸高精度环状T型结构精密检测方法，其特征在于：

所述方法j中的参数数据为十六等分点的面板宽度、腹板高度、面板与腹板垂直度、腹板对面板中心偏差、腹板波纹度、腹板直径、坡口值、坡口角度、焊缝高度、焊缝宽度一系列参数。