[发明专利]一体成型电感测包方法在审
申请号: | 202210059752.X | 申请日: | 2022-01-19 |
公开(公告)号: | CN114384329A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 赵铁钧;李东方;邱锦石;王祥海 | 申请(专利权)人: | 山东恒瑞磁电科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 李斌 |
地址: | 277500 山东省枣*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一体 成型 电感 方法 | ||
1.一体成型电感测包方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:组成RL电路:将标准电阻和待检测电感串联组成RL电路,将处理器、波形发生器、降压转换器和运算放大器接入RL电路,处理器利用降压转换器通过波形发生器产生不同频率且频率为fi正弦信号,降压转换器在导通状态时,使用脉冲宽度调制信号,途经运算放大器向RL电路输入电压,在降压转换器的关闭期间,关掉RL电路,停止向途经运算放大器向RL电路输入电压,在降压转换器的关闭期间,通过使用RL电路生成电感电流,处理器将产生的fi正弦信号从万用表的PA6脚输入万用表的主芯片,然后通过万用表的开关网络从万用表的PA4脚输出,输出的信号最后施加在RL电路上;
步骤2:得到电感值:通过电流传感器和电压传感器检测到标准电阻上的电流为I1,电压为U1,被测电感的电流为I2,电压为U2,然后将I1、U1、I2和U2通过网络开关输送到万用表主芯片的MCU上,MCU对I1、U1、I2和U2做真有效值变换,MCU根据I1、U1、I2和U2变换后的数值,从而控制开关网络,最后自动转换量程,变为直流电压的U1和U2在MCU进行比例运算,并根据公式L=U/2πfI进行运算,最终得到电感值,并显示测量结果;
步骤3:组成RLC电路:将标准电阻、标准电容和待检测电感串联成RLC电路,将处理器、波形发生器、降压转换器和运算放大器接入RLC电路,处理器利用降压转换器通过波形发生器产生频率为f0的交流信号,处理器将产生的fi正弦信号导入RLC电路中,RLC电路接收电信号,其中电信号表示在测量的谱频率范围上与流体进行操作接触的RLC电路的谐振阻抗谱;
步骤4:计算损耗电阻:通过电流传感器和电压传感器检测RLC电路的电流I和电压U,并将电流I和电压U输送给处理器,处理器根据公式RL=(U/I)-R计算得到待检测电感的损耗电阻RL;
步骤5:计算品质因数:处理器根据公式Q=2πfjL/RL计算得到待检测电感的品质因数Q。
2.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤1中,事先使用万用表测量待检测电感的电阻值,待检测电感存在电阻值,可以进行正常操作。
3.根据权利要求2所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤1中,当待检测电感的电阻值为无穷大,说明电感损坏,需要更换电感。
4.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤1中,标准电阻最小值为100Ω,最大值为200Ω。
5.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤1中,频率fi的取值范围为不小于50kHz。
6.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤3中,标准电阻R的最小值为10Ω,最大为50Ω。
7.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤3中,在f0的频率下,RLC电路产生谐振。
8.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤5中,RL是待检测电感的损耗电阻。
9.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤5中,L是待检测电感的电感值,是根据公式L=U/2πfI进行运算的结果。
10.根据权利要求1所述的一体成型电感测包方法,其特征在于:所述在步骤5中,公式中fj为待检测电感所在交流电压下工作的频率f0。
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