[发明专利]一种程控双通道幅相控制器

说明书

本发明公开了一种程控双通道幅相控制器，涉及幅相控制器制造技术领域，本发明包括设置在三轴模拟旋转台机构上的壳体以及设置在壳体内部的幅相控制器组件，幅相控制器组件，包括第一芯片、第二芯片、微波单元、第一功分器、第二功分器、测幅鉴相模块、第三功分器、第四功分器以及单片机，壳体一侧设有I/O接口，壳体内部设有主电路板，若干I/O接口另一端与主电路板连接，微波单元包括设置在主电路板上的微波电路板以及设置在微波电路板上的变频本振、开关滤波器组、总幅度控制衰减器、第一幅度控制衰减器、第二幅度控制衰减器、第一数控移向器以及第二数控移向器。本发明公为一种程控双通道幅相控制器，有着价格便宜，测试效率高、精度高的优点。

技术领域

本发明涉及幅相控制器制造技术领域，特别涉及一种程控双通道幅相控制器。

背景技术

导弹导引头出厂前都需要进行场内测试，以此确保制导精度，目前流行的测试方法中，通过比幅度测向和干涉仪测向(比相位)两种方式确定飞行方向和打击位置，在导弹导引头的设计开发过程中，需要信号源等装置提供不同幅度的信号用于对导弹导引头比幅度测向功能进行测试、提供不同相位的信号用于对导弹导引头干涉仪测向(比相位)功能进行测试。

现有的测试方式，通常使用两台通用信号源提供不同幅度的信号，两台通用信号源设置不同的输出信号功率，使这两个信号之间产生幅度差，测试导弹导引头比幅度测向功能，通常使用两台通用信号源加移相器提供不同幅度的信号，两台通用信号源设置相同的信号，移相器改变其中一路信号的相位，使这两个信号之间产生相位差，测试导弹导引头干涉仪测向(比相位)功能，由于通信信号源价格昂贵且功能丰富，使用两台通用信号源且仅使用该单一功能测试造成极大的浪费。

通用信号源性能可能存在输出功率、相位不稳定的情况，这可能导致两台通用信号源的幅度差、相位差不准确，给导弹导引头的定量测试造成困难。

现有条件下，为消除该误差隐患，需要人工校准，由于测试中需要大量数据，每次调节都要人工校准，导致测试效率低下。

移相器存在插入损耗，该插入损耗随频率、温度等因素变化，这导致在进行相位调节时，不能进行精确的幅度调节，因此使用通用信号源不能实现幅度、相位同时调节，测试人员无法同时对导弹导引头的比幅度测向和干涉仪测向(比相位)功能进行测试，导致导弹导引头的内场测试脱离实战，测试精度差。

因此现有的导弹导引头测试过程中存在测试成本高问题、幅度差、相位差精确控制难问题、人工校准效率低的问题以及幅度差、相位差同时控制难问题，为了解决上述问题，我们使用程控双通道幅相控制器替代两个价格昂贵的通用信号源，为此，我们提出一种程控双通道幅相控制器。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种程控双通道幅相控制器，可以有效解决背景技术中的现有导弹导引头测试过程中存在测试成本高问题、幅度差、相位差精确控制难问题、人工校准效率低的问题以及幅度差、相位差同时控制难的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：一种程控双通道幅相控制器，包括设置在三轴模拟旋转台机构上的壳体以及设置在壳体内部的幅相控制器组件，所述幅相控制器组件，包括第一芯片、第二芯片、微波单元、第一功分器、第二功分器、测幅鉴相模块、第三功分器、第四功分器以及单片机；

所述壳体一侧设有I/O接口，所述壳体内部设有主电路板，若干所述I/O接口另一端与主电路板连接，所述第一芯片、所述第二芯片、所述微波单元、所述第一功分器、所述第二功分器、所述测幅鉴相模块、所述第三功分器、所述第四功分器以及所述单片机均固定安装在所述主电路板上，且与所述主电路板电性连接；