[发明专利]一种OIS测试设备

说明书

本发明公开了OIS技术领域的一种OIS测试设备；包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘，固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧，测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板，测试转盘包括转盘，转盘上对称设置有四个固定装置，转盘的上方设置固定板，固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸。本发明的有益效果是：实现OIS零部件的自动上料，减少OIS零部件性能检测时的人工成本浪费。同时通过多个固定装置上的多个放置槽进行OIS零部件的放置，使一次动作即可对两个OIS零部件进行同一项性能测试，进而实现OIS零部件的性能比对测试，使OIS零部件的测试结果更加趋向于单批次零部件的平均水平。

技术领域

本发明涉及OIS技术领域，具体是一种OIS测试设备。

背景技术

OIS，它的全称是Optical Image Stabilization，从字面理解就是稳定的光学图像；通过镜头的浮动透镜来纠正“光轴偏移”，其原理是通过镜头内的陀螺仪侦测到微小的移动，然后将信号传至微处理器，处理器立即计算需要补偿的位移量，然后通过补偿镜片组，根据镜头的抖动方向及位移量加以补偿；从而有效地克服因相机的振动产生的影像模糊。

在OIS零部件生产时，需要对OIS零部件的性能进行测试。在现有技术中，多数OIS零部件均采用单一设备进行测试，测试速度受测试装置的测试速度限制，同时单程测试装置单次仅能对OIS零部件的一项数据进行测试，严重耽误了OIS零部件的测试速度，同时现有的OIS零部件测试设备或人工进行上下料进行抽样测试，或安装在流水线上对OIS零部件进行测试，人工抽样测试时，测试所得数据不全面，同时耗费人工成本，而将测试设备加载于流水线上进行检测时，单个OIS零部件检测时间较短，无法对OIS零部件的性能进行全面检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种OIS测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种OIS测试设备，包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘，所述固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧，所述测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板，所述测试转盘包括转盘，所述转盘上对称设置有四个固定装置，所述转盘的上方设置固定板，所述固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸，所述固定板远离推动气缸的一端及垂直两个方向均设置转盘顶部测试器，三个所述转盘顶部测试器的底端均设置转盘顶部测试探针，所述固定板垂直推动气缸两端的底端均设置转盘底部测试器，两个所述转盘底部测试器的顶部均设置底部控制器，两个所述底部控制器与转盘顶部测试探针位置相匹配的顶部均设置转盘底部测试探针，所述固定测试架底端设置有第一测试架，所述第一测试架靠近测试转盘的一端设置两个定位检测器，所述第一测试架位于定位检测器的下端设置第一检测探针，所述第一测试架靠近测试转盘的一侧设置第二测试架，所述第二测试架两侧的上方均设置探针控制器，两个所述探针控制器靠近第一测试架的一侧均设置第二检测探针。

作为本发明进一步的方案：所述固定装置靠近上料盘一侧的底部设置支撑柱，四个所述固定装置顶端的两侧均设置放置槽，多个所述放置槽靠近转盘的一侧均设置夹板，多个所述夹板靠近转盘打的一侧均设置复位弹簧，所述推动气缸位置与夹板位置相匹配，通过推动气缸推动夹板动作，进而对放置槽内部的OIS零部件进行限位或解除限位，当固定装置随转盘转动时，推动气缸解除与夹板的触接，复位弹簧带动夹板自动复位，进而对放置槽内部的OIS零部件进行夹紧限位。

作为本发明再进一步的方案：所述第一测试架和第二测试架均与底板连接，所述第一测试架远离第二测试架一侧的顶端设置两个固定架，两个所述第二检测探针与第一检测探针位置相匹配，通过第一测试架和第二测试架配合测试转盘上的测试装置对OIS零部件进行全面的检测。