[发明专利]一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线有效

专利信息
申请号: 202210033217.7 申请日: 2022-01-12
公开(公告)号: CN114552190B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 杜伯学;赵彦淇;韩先才;孔晓晓;陈允;李奇;腾云;崔博源 申请(专利权)人: 天津大学;中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
主分类号: H01Q1/38 分类号: H01Q1/38;H01Q1/48;H01Q1/50;H01Q7/00
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 王利文
地址: 300074*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 理论 局部 放电 检测 新型 高频 天线
【权利要求书】:

1.一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:包括绝缘介质基板、多阶金属辐射贴片、微带线和接地极板,所述多阶金属辐射贴片逐级缩小并且同心安装在绝缘介质基板的正面,所述微带线安装在多阶金属辐射贴片外侧并与其相连接,所述接地极板安装绝缘介质基板的背面。

2.根据权利要求1所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述多阶金属辐射贴片包括从外至内逐级缩小的零阶金属辐射贴片、一阶金属辐射贴片、二阶金属辐射贴片和三阶金属辐射贴片,所述多阶金属辐射贴片贴装在绝缘介质基板上。

3.根据权利要求2所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述零阶金属辐射贴片、一阶金属辐射贴片、二阶金属辐射贴片和三阶金属辐射贴片均为圆形内接一个正六边形所得到的环状结构,所述正六边形的边长与圆形的半径之比为0.6。

4.根据权利要求1至3任一项所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述多阶金属辐射贴片的逐级缩小因子为0.5至0.7。

5.根据权利要求1至3任一项所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述微带线贴装在多阶金属辐射贴片外侧的正下方,所述接地极板贴装在绝缘介质基板的背面正下方。

6.根据权利要求1至3任一项所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述绝缘介质基板采用介电常数为4~4.5、损耗角正切为0.015~0.03的FR4介质基板。

7.根据权利要求1至3任一项所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述微带线为矩形结构,其宽度为2.5mm至3.5mm,高度为29mm至30mm。

8.根据权利要求1至3任一项所述的一种基于分形理论的局部放电检测用新型特高频天线,其特征在于:所述接地极板为矩形结构,其宽度为180mm至210mm,高度为26mm至29mm。

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