[发明专利]一种成像检测方法及系统在审
申请号: | 202210028379.1 | 申请日: | 2022-01-11 |
公开(公告)号: | CN114324366A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 耿继新;郑增强;钟凡;程慧东;王稷龙 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司;上海精濑电子技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;H05B47/11 |
代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 邱云雷 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 成像 检测 方法 系统 | ||
1.一种成像检测方法,其特征在于,其包括如下步骤:
使用单点控制光源(6)对测量物(7)进行照明,所述单点控制光源(6)包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠(10);
使用成像设备(8),拍摄所述测量物(7)的图像;
根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度,控制所述单点控制光源(6)的各个灯珠(10)的电压,直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致。
2.如权利要求1所述的成像检测方法,其特征在于,根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度,控制所述单点控制光源(6)的各个灯珠(10)的电压,直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致,包括如下步骤:
对所拍摄的图像进行区域划分,获取各个区域的亮度值;
将所述区域的亮度值,与预设的亮度中,与该区域相对应的亮度值进行比对,若亮度值不一致,则调整照亮该区域的灯珠(10)的电压,直至相一致;若亮度值相一致,则进入下一个区域;
遍历所有区域,完成亮度值的调整。
3.如权利要求1所述的成像检测方法,其特征在于,所述单点控制光源(6)包括:
光源本体(1),所述光源本体(1)包括所述灯珠(10),各所述灯珠(10)的阳极用于连接同一个电源(2);
中央处理器(3),其用于接收主控装置(9)发来的控制指令,所述主控装置(9)对比所拍摄的图像的亮度与预设的亮度,根据对比结果,生成所述控制指令;
多通道恒流控制器(4),其与所述中央处理器(3)相连接,所述多通道恒流控制器(4)具有多路电压控制通道(40),每一路电压控制通道(40)的一端连接于一个所述灯珠(10)的阴极,并根据控制指令,独立地控制该灯珠(10)的电压,以控制该灯珠(10)的亮度,每一路电压控制通道(40)的另一端用于连接所述电源(2)。
4.如权利要求3所述的成像检测方法,其特征在于,所述电压控制通道(40)包括:
MOS管(400),其漏极连接灯珠(10)的阴极,源极连接检流电阻(401);
数模转换芯片(402),其连接所述中央处理器(3),并根据所述控制指令,输出目标电压;
驱动器(403),其连接所述数模转换芯片(402),并根据所述目标电压,驱动MOS管(400)的栅极;
系统地(404),其连接所述检流电阻(401)。
5.如权利要求4所述的成像检测方法,其特征在于:所述电压控制通道(40)还包括模数转换芯片(405),所述模数转换芯片(405)连接所述检流电阻(401)和中央处理器(3),所述模数转换芯片(405)用于检测所述检流电阻(401)电压是否等于目标电压,并将检测结果反馈给中央处理器(3)。
6.如权利要求1所述的成像检测方法,其特征在于:
所述成像设备(8)包括镜头(80)、传感器(81)和分束器(82),所述分束器(82)反射所述单点控制光源(6)发出的光,并经所述镜头(80)透射后对测量物(7)进行照明;所述测量物(7)反射所述单点控制光源(6)的光,并经所述分束器(82)透射后,在所述传感器(81)上形成所述图像。
7.如权利要求1所述的成像检测方法,其特征在于:
所述成像设备(8)包括镜头(80)和传感器(81),所述单点控制光源(6)发出的光直接照射所述测量物(7),经所述测量物(7)和镜头(80)透射后的光在所述传感器(81)上形成所述图像。
8.一种成像检测系统,其特征在于,其包括:
单点控制光源(6),所述单点控制光源(6)用于对测量物(7)进行照明,所述单点控制光源(6)包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠(10);
成像设备(8),所述成像设备(8)用于拍摄所述测量物(7)的图像;
主控装置(9),所述主控装置(9)连接所述单点控制光源(6)和成像设备(8),并用于根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度,控制所述单点控制光源(6)的各个灯珠(10)的电压,直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致。
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