[发明专利]用于确定粒子轨迹中的键的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定粒子轨迹中的键的方法(100)，包括以下步骤：

-获得(101)材料系统中的粒子轨迹的数据集；

-动态地识别所述材料系统中的粒子之间的键(102)，其中，动态地识别键包括：

-选择(103)包括一对粒子(10，11)的候选键；

-在以下情况下，将所述候选键确定(104)为结合的：

i.在第一预定时间段(t1)内，基于所述对粒子(10，11)的粒子半径(r1，r2)的组合，所述对粒子(10，11)比预定最大距离更近；

ii.在第二预定时间段(t2)期间，所述对粒子(10，11)之间的平均距离(d')在与以下各项中的至少一项相关联的公差(t')内：所述对粒子(10，11)的偏径向分布函数pRDF的峰值，或者所述对粒子(10，11)的最近邻距离或平衡键长的度量；以及

iii.在第三预定时间段(t3)内，所述候选键的第一粒子(10)不存在于与所述候选键中的第二粒子(11)和任何其他粒子(12)相关联的排斥体(15)内，或者所述候选键的第一粒子在存在于所述排斥体(15)内的情况下满足键长标准。

2.根据权利要求1所述的方法(100)，其中，在所述候选键中的粒子(10，11)之间的第一长度(L1)小于预定因子乘以第二长度(L2)的情况下，满足所述键长标准，其中，所述第二长度(L2)由与所述排斥体相关联的所述对粒子之间的长度限定。

3.根据权利要求1或2所述的方法(100)，还包括以下步骤：

-在所述候选键是结合的情况下，确定(105)键寿命。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法(100)，还包括以下步骤：

-基于所述材料系统中的所识别的键来确定(106)至少一个键合图。

5.根据权利要求4所述的方法(100)，还包括以下步骤：

-基于至少一个键合图的划分来表征(107)粒子类型或者局部结构或者全局结构；

-基于所述粒子类型或者所述局部结构或者所述全局结构来预测所述材料系统的物理化学特性。

6.根据权利要求4或5中任一项所述的方法(100)，其中，根据第一表示模型或第二表示模型对键合图进行划分，其中，所述第一表示模型包括将键合图划分为连接的组分，并且所述第二表示模型包括将键合图划分为由距中心粒子或基序中的至少一个直至最大图距离的顶点和所述顶点之间的边限定的图邻域。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法(100)，其中，一对粒子之间的平均距离(d')满足：

其中，α是公差，r_peak是偏径向分布函数pRDF中的峰值、或者最近邻距离或平衡键长的其他度量，并且d_ij(t)是作为时间t的函数的距离。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法(100)，其中，所述偏径向分布函数pRDF为

其中，n(r)是类型j的粒子或基序在距类型i的粒子的距离r上的数量密度，并且该表达式通过类型j的平均体积数量密度n₀进行归一化。

9.一种计算机可读存储介质，其存储被配置成由电子装置的一个或更多个控制电路执行的一个或更多个程序，所述一个或更多个程序包括用于执行根据权利要求1至8中任一项所述的方法(100)的指令。

10.一种电子装置(1)，包括：一个或更多个控制电路(2)；以及存储器装置(3)，其存储被配置成由所述一个或更多个控制电路(2)执行的一个或更多个程序，所述一个或更多个程序包括用于执行根据权利要求1至8中任一项所述的方法(100)的指令。