[发明专利]电磁波检测装置和测距装置在审
| 申请号: | 202180046881.9 | 申请日: | 2021-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN115867827A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 冈田浩希 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
| 主分类号: | G01S17/86 | 分类号: | G01S17/86 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电磁波 检测 装置 测距 | ||
本发明提供能够准确地检测被摄体的位置的电磁波检测装置和测距装置。电磁波检测装置(10)具有:第一检测部(20),检测向存在对象(ob)的空间的多个方向照射的电磁波被对象(ob)反射后的反射波;图像信息获取部(141),获取空间的图像信息;以及受光控制部(144),对图像信息获取部(141)获取图像信息的时机进行控制以使其接近向对象中规定的跟踪对象照射电磁波的时机。
关联申请的相互参照
本申请要求日本国专利申请2020-114476号(2020年7月1日申请)的优先权,在此其全部公开内容通过引用并入本文。
技术领域
本发明涉及一种电磁波检测装置和测距装置。
背景技术
近年来,开发了根据检测电磁波的多个检测器的检测结果来获得关于周围的信息的装置。在这种装置中,有时通过拍摄元件获取包括被摄体的拍摄图像,并且通过检测包括被被摄体反射的反射波的电磁波来检测到被摄体的距离等。例如,已知根据距离信息,即使多个物体因错位等而交叉也能够进行区分的电磁波检测装置(参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2019-215238号公报。
发明内容
第一方面的电磁波检测装置具有:
第一检测部,检测向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波被所述对象反射后的反射波;
图像信息获取部,获取所述空间的图像信息;以及
受光控制部,对所述图像信息获取部获取所述图像信息的时机进行控制以使其接近向所述对象中规定的跟踪对象照射所述电磁波的时机。
另外,第二方面的测距装置具有:
第一检测部,检测向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波被所述对象反射后的反射波;
图像信息获取部,获取所述空间的图像信息;
受光控制部,对所述图像信息获取部获取所述图像信息的时机进行控制以使其接近向所述对象中规定的跟踪对象照射所述电磁波的时机;以及
运算部,根据所述第一检测部的检测信息对与所述对象的距离进行运算。
附图说明
图1是表示一实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
图2是用于说明图1的电磁波检测装置的第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的图。
图3是用于说明包括反射波的电磁波的检测的图。
图4是用于说明距离的运算的时序图。
图5是表示存在对象的空间的拍摄图像的一例的图。
图6是用基于距离的图像表示与图5的拍摄图像相同的空间的图。
图7是例示拍摄图像和距离图像的获取时机的图。
图8是用于对跟踪对象照射时机进行说明的图。
图9是用于说明跟踪对象的三维位置的检测的图。
图10是表示照射控制部的处理的流程图。
图11是表示受光控制部的处理的流程图。
具体实施方式
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