[发明专利]电磁波检测装置和测距装置在审
| 申请号: | 202180046881.9 | 申请日: | 2021-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN115867827A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 冈田浩希 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
| 主分类号: | G01S17/86 | 分类号: | G01S17/86 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电磁波 检测 装置 测距 | ||
1.一种电磁波检测装置,其中,具有:
第一检测部,检测向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波被所述对象反射后的反射波;
图像信息获取部,获取所述空间的图像信息;以及
受光控制部,对所述图像信息获取部获取所述图像信息的时机进行控制以使其接近向所述对象中规定的跟踪对象照射所述电磁波的时机。
2.根据权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,具有:
照射系统,向所述空间照射电磁波;以及
照射控制部,对所述照射系统向所述空间照射电磁波的方向和时机进行控制,
所述受光控制部算出所述照射控制部向所述空间的包含跟踪对象的方向照射电磁波的时机即跟踪对象照射时机,根据所述跟踪对象照射时机使图像信息获取部获取所述图像信息。
3.根据权利要求2所述的电磁波检测装置,其中,
所述图像信息获取部根据规定的时机获取所述图像信息,
所述受光控制部通过使所述规定的时机延迟来使获取所述图像信息的时机接近跟踪对象照射时机,
在所述受光控制部不使所述规定的时机延迟的情况下,所述规定的时机是以固定的速率获取所述图像信息的时机。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
具有:跟踪处理部,根据所述图像信息获取部获取的所述图像信息,从所述对象确定所述跟踪对象。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
所述第一检测部通过边改变照射方向边照射所述电磁波来扫描所述跟踪对象,
所述图像信息获取部获取1帧的所述图像信息所需要的时间比所述第一检测部检测1帧的所述反射波所需要的时间短。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
配置为所述图像信息中的规定位置与所述第一检测部检测的来自所述规定位置的所述反射波的光轴一致。
7.根据权利要求6所述的电磁波检测装置,其中,具有:
第二检测部,检测所述光并输出所述图像信息;以及
分离部,将包括所述反射波的电磁波分离成所述反射波向所述第一检测部行进且所述光向所述第二检测部行进。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
根据所述反射波的检测以及所述图像信息中的所述跟踪对象的位置,生成关于所述跟踪对象的位置信息。
9.根据权利要求8所述的电磁波检测装置,其中,
根据在不同的时机检测到的关于所述跟踪对象的位置信息,算出所述跟踪对象的移动速度。
10.一种测距装置,其中,具有:
第一检测部,检测向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波被所述对象反射后的反射波;
图像信息获取部,获取所述空间的图像信息;
受光控制部,对所述图像信息获取部获取所述图像信息的时机进行控制以使其接近向所述对象中规定的跟踪对象照射所述电磁波的时机;以及
运算部,根据所述第一检测部的检测信息对与所述对象的距离进行运算。
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