[发明专利]校验和附加方法及校验和附加装置及传感器系统在审
| 申请号: | 202180024523.8 | 申请日: | 2021-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN115335818A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
| 发明(设计)人: | 大塚信也;山本康介 | 申请(专利权)人: | 美蓓亚三美株式会社 |
| 主分类号: | G06F13/38 | 分类号: | G06F13/38;H03M13/09;G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;文志 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 校验 附加 方法 装置 传感器 系统 | ||
1.一种校验和附加方法,其特征在于,包含:
命令取得工序,取得从请求源发送的命令和地址;
数据读出工序,根据所述命令从所述地址读出数据;
校验和计算工序,计算对所述数据附加的校验和;以及
数据发送工序,将所述校验和以及所述数据发送给所述请求源,
在所述校验和计算工序中,以与所述命令的种类对应的数据单位来计算所述校验和。
2.根据权利要求1所述的校验和附加方法,其特征在于,
在通过所述命令取得工序取得的所述命令是第一读取命令的情况下,
在所述数据读出工序中,从所述地址读出预定的数据单位的一个数据,
在所述校验和计算工序中,对所述一个数据计算所述校验和。
3.根据权利要求1或2所述的校验和附加方法,其特征在于,
在通过所述命令取得工序取得的所述命令是第二读取命令的情况下,
在所述数据读出工序中,从所述地址读出预定的数据单位的多个数据,
在所述校验和计算工序中,对所述多个数据分别计算所述校验和。
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的校验和附加方法,其特征在于,
在通过所述命令取得工序取得的所述命令是第三读取命令的情况下,
在所述数据读出工序中,从所述地址读出包含预定的数据单位的多个数据的一组数据,
在所述校验和计算工序中,对所述一组数据计算所述校验和。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的校验和附加方法,其特征在于,
在所述校验和计算工序将所述命令、所述地址以及所述数据包含在计算对象中来计算所述校验和。
6.一种校验和附加装置,其特征在于,具备:
命令取得部,其取得从请求源发送的命令和地址;
数据读出部,其根据所述命令从所述地址读出数据;
校验和计算部,其计算对所述数据附加的校验和;以及
数据发送部,其将所述校验和以及所述数据发送给所述请求源,
所述校验和计算部以与所述命令的种类对应的数据单位来计算所述校验和。
7.一种传感器系统,其具备传感器、对所述传感器的输出信号进行预定处理的集成电路以及从所述集成电路取得需要的数据的外部装置,其特征在于,
所述外部装置将多种命令中的用于取得所述需要的数据的任意一个命令以及存储有所述需要的数据的地址发送给所述集成电路,
所述集成电路具备:
命令取得部,其取得从所述外部装置发送的命令和地址;
数据读出部,其根据所述命令从所述地址读出数据;
校验和计算部,其计算对所述数据附加的校验和;以及
数据发送部,其将所述校验和以及所述数据发送至所述外部装置,
所述校验和计算部以与所述命令的种类对应的数据单位来计算所述校验和。
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