[实用新型]一种电池串检测工装及返修台有效
申请号: | 202123033195.4 | 申请日: | 2021-12-02 |
公开(公告)号: | CN216389264U | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 张书语;宋杰;李冬生;周福深;李岩 | 申请(专利权)人: | 通威太阳能(合肥)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 昆明合众智信知识产权事务所 53113 | 代理人: | 汤文旋 |
地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电池 检测 工装 返修 | ||
本实用新型公开了一种电池串检测工装及返修台,涉及电池串检测技术领域,包括对比平板和固定设置的固定板,所述对比平板通过调节伸缩组件和转动杆进行移动,本实用新型在使用中,通过将对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处,以对比平板作为对比参照,检测更换的电池片与相邻的电池片间是否存在错位问题,提高检测的精准度和效率,并通过机械运动的方式移动对比平板,也使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处更为稳定,进一步提高检测的精准度。
技术领域
本实用新型涉及电池串检测技术领域,具体为一种电池串检测工装及返修台。
背景技术
太阳能行业作为一种低碳可再生能源,正在世界范围内蓬勃发展,光伏组件制程过程中返修成功率和返修的速度对组件产能的影响越来越大。叠瓦组件在串返过程中,串长长度一般在1000mm以上,接串时往往会出现串弧现象(电池串接片处只要有1片电池与电池串整体不在一条直线上,偏差超出串长的1.5‰即视为串弧)。因串长长度远大于串弧偏差长度,员工肉眼无法发现该异常,导致返修串流转至层压后造成组件降级、或二次返修,从而造成车间碎片率上升、良率下降,增加制造成本。
目前光伏组件厂解决串弧问题主要以目视或对比两种方式检验,但这两种方式都存在不足,如:1,目视检验,因串长长度太大,而串弧偏差较小,目视难以准确发现串弧,检测效果较差;2,电池串对比检验,因需要和其他电池串对比,需要周转,容易额外产生碰撞导致碎片,而且因电池串较长,周转不方便,影响生产效率;3,水平尺对比检验,工人手持水平尺检测串弧时易发生抖动,使得检测效果较差。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电池串检测工装及返修台,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种电池串检测工装,包括对比平板和固定设置的固定板,所述对比平板通过调节伸缩组件和转动杆进行移动,使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处进行串弧检测,提高检测的精准度和效率,并通过机械运动的方式移动对比平板,也使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处更为稳定。
优选的,所述伸缩组件包括一端开口的滑筒和活动伸出滑筒开口的螺纹丝杆,所述滑筒转动连接有螺纹转筒,且螺纹丝杆与螺纹转筒螺纹配合,螺纹丝杆和螺纹转筒的螺纹配合具备自锁效果,提高对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处时的稳定性。
优选的,所述螺纹丝杆伸入滑筒的一端固定连接有限位块,且限位块与滑筒内壁滑动连接,限位块防止螺纹丝杆随螺纹转筒一同转动。
优选的,所述螺纹转筒转动连接在滑筒开口的端面上,且螺纹转筒靠近滑筒的端面固定连接有连接环板,所述连接环板远离螺纹转筒的一端固定连接有限位环板,所述滑筒开设有转动放置连接环板的连接环槽、及转动放置限位环板的限位环槽,连接环槽挡住限位环板,使得螺纹转筒转动过程中滑筒保持稳定。
优选的,所述螺纹丝杆伸出滑筒的一端与对比平板固定连接,所述滑筒远离螺纹丝杆的一端与转动杆固定连接,且转动杆与固定板转动连接,先通过转动杆带动对比平板偏转,再拉动螺纹丝杆,使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处。
优选的,所述螺纹丝杆伸出滑筒的一端与转动杆固定连接,且转动杆与对比平板转动连接,所述滑筒远离螺纹丝杆的一端固定板转动连接,先通过螺纹丝杆将对比平板拉动至接近更换的电池片处时,再旋转对比平板,使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处。
优选的,所述螺纹丝杆伸出滑筒的一端固定连接有转动杆,且转动杆与对比平板转动连接,所述滑筒远离螺纹丝杆的一端也固定连接有转动杆,且转动杆与固定板固定连接,先通过转动杆带动对比平板偏转,再拉动螺纹丝杆,最后旋转对比平板,使得对比平板贴靠在更换的电池片和与之相邻的电池片处。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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