[实用新型]一种老炼用受试器件状态监测装置

说明书

本实用新型涉及一种老炼用受试器件状态监测装置，包含电源模块、直流电平检测模块和交流信号检测模块，所述直流电平检测模块和交流信号检测模块均由电源模块进行供电，所述的电源模块通过稳压电路对输入电压进行直流转换，同时所述的直流电平检测模块通过驱动电路让指示器工作，以对受试器件的工作状态进行指示，交流信号检测模块通过信号放大电路对受试器件的输出信号进行放大，再通过整形电路对放大后的信号进行整形，整形后的信号与信号发生电路输出的预设矩形波在电平触发电路中触发低频脉冲。本监测装置用来检测受试电路输出的方波、正弦波和矩形波，并可以通过指示器将受试电路的状态显示出来，具有使用方便、成本低廉的技术优势。

技术领域

本实用新型涉及集成电路筛选过程中周期信号的状态监测技术，尤其是指一种老炼用受试器件状态监测装置。

背景技术

老炼试验是能将早期失效和勉强合格的半导体器件进行剔除的一种无损试验技术。试验通过温度应力和电气应力两方面共同作用，对半导体器件进行苛刻的试验使其故障尽早出现，从而发现并剔除早期失效样品，以提高集成电路在使用过程中的可靠性。

现有信号监测板卡大多采用带有ADC功能的主控芯片进行控制，低端芯片的ADC输入端口数量有限，高端芯片的ADC输入端口较多。

带ADC功能的低端芯片硬件成本虽较低，但采样端口有限，不适合多工位信号监测；高端芯片的ADC采样端口数量虽多，但成本较高，亦不适合多工位信号监测。而且，带ADC功能的信号监测板卡需要编程才能正常工作，操作难度较大，后期维护也不方便。

实用新型内容

为此，本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中带ADC功能的信号监测板卡需要编程才能正常工作，操作难度较大，后期维护也不方便，亦不适合多工位信号监测的问题，从而提供一种老炼用受试器件状态监测装置。

为解决上述技术问题，本实用新型的一种老炼用受试器件状态监测装置，包含电源模块、直流电平检测模块和交流信号检测模块，所述直流电平检测模块和交流信号检测模块均由电源模块进行供电，所述的电源模块通过稳压电路对输入电压进行直流转换，同时所述的直流电平检测模块通过驱动电路让指示器工作，以对受试器件的工作状态进行指示，交流信号检测模块通过信号放大电路对受试器件的输出信号进行放大，再通过整形电路对放大后的信号进行整形，整形后的信号与信号发生电路输出的预设矩形波在电平触发电路中触发低频脉冲，所述触发电路输出低频脉冲以控制指示器对受试电路进行状态指示。

在本实用新型的一个实施例中，所述电源模块由稳压芯片U1、电源接插件J1、储能电容C1、 C3、滤波电容C2、C4、电阻R1、R2、R3、R4和发光二极管D1、D2构成，C1、C2与J1并联，对所述接插件J1输入的5V电压进行储能滤波，R1、D1串联后与所述储能电容C1、滤波电容C2并联，用来指示输入5V电压的状态，稳压芯片U1输入端与所述储能电容C1、滤波电容C2串联，输出端并联电容C3、C4进行储能滤波，R3、D2串联后与所述储能电容C3、滤波电容C4并联，用来指示所述稳压芯片U1输出3.3V电压的状态，所述电阻R1、R3分别为发光二极管D1、D2的限流电阻。

在本实用新型的一个实施例中，所述直流电平检测模块由PNP管阵列U2、U3、NPN管阵列U4、 U5、电阻R11-R34、发光二极管D3-D14和接插件J2构成；电阻R5-R10一端连接插件DB37，另一端连接插件J2输入端，用于输入信号F1-F6的限流保护，所述接插件J2的另一端分别连接PNP 管阵列U2、U3的基极限流电阻R17-R22和NPN管阵列U4、U5的基极限流电阻R23-R28，所述电阻R17-R28的另一端分别和所述PNP管阵列U2、U3、NPN管阵列U4、U5各自的基极连接；所述 PNP管阵列U2、U3,NPN管阵列U4、U5的集电极分别串联限流电阻R11-R16、R29-R34后接5V 电压，发光二极管D3-D14正极分别与所述PNP管阵列U2、U3、NPN管阵列U4、U5的集电极连接，负极分别对地连接。