[实用新型]一种厚度测量装置

权利要求书

1.一种厚度测量装置，其特征在于，包括：

架体(1)，所述架体(1)上设有待测件的传输机构；

角度调节机构，设于所述架体(1)上，沿所述架体(1)水平移动，包括相对设置且同步转动的第一调节结构(4)和第二调节结构(5)，待测件由所述第一调节结构(4)和第二调节结构(5)之间穿过；

处理器，分别与所述第一调节结构(4)的第一测距件(9)和所述第二调节结构(5)的第二测距件(11)的信号连接，用于测量所述待测件的厚度。

2.根据权利要求1所述的厚度测量装置，其特征在于，第一调节结构(4)和第二调节结构(5)均包括连接座(6)和旋转座(10)，所述连接座(6)设于所述架体(1)上，且具有角度导向结构(7)，所述旋转座(10)通过所述角度导向结构(7)与所述连接座(6)旋转连接。

3.根据权利要求2所述的厚度测量装置，其特征在于，所述角度导向结构(7)为沿所述待测件的传输方向延伸设置的弧形槽，所述旋转座(10)的相应位置设有可插入所述弧形槽中滑动的滑杆。

4.根据权利要求2所述的厚度测量装置，其特征在于，所述连接座(6)固定于所述架体(1)的水平移动机构上，所述水平移动机构与处理器信号连接，以在所述处理器的控制下带动所述连接座(6)做水平方向往复运动。

5.根据权利要求2所述的厚度测量装置，其特征在于，所述旋转座(10)的滑动方向垂直于所述待测件的传输方向。

6.根据权利要求2所述的厚度测量装置，其特征在于，所述第一调节结构(4)和所述第二调节结构(5)均沿所述连接座(6)的滑动方向等间隔设置有多个。

7.根据权利要求1所述的厚度测量装置，其特征在于，所述第一测距件(9)和所述第二测距件(11)均为超声波探头。

8.根据权利要求1－7任一项所述的厚度测量装置，其特征在于，所述第一调节结构(4)和第二调节结构(5)中还固定设置有滑线感应器(12)，所述滑线感应器(12)与所述处理器信号连接。

9.根据权利要求8所述的厚度测量装置，其特征在于，所述滑线感应器(12)为光栅尺。

10.根据权利要求1－7任一项所述的厚度测量装置，其特征在于，所述架体(1)的两侧分别还设置有导柱(2)，所述传输机构滑动设于相对设置的一对导柱(2)之间。