[实用新型]水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置有效
申请号: | 202122644553.9 | 申请日: | 2021-11-01 |
公开(公告)号: | CN215941865U | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 张赛博;赵俊淞;李小海 | 申请(专利权)人: | 佳木斯大学 |
主分类号: | B23K26/362 | 分类号: | B23K26/362;B23K26/70 |
代理公司: | 南京鼎傲知识产权代理事务所(普通合伙) 32327 | 代理人: | 胡光金 |
地址: | 154007 黑*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水射流 辅助 激光 蚀刻 加工 单晶硅 装置 | ||
1.水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,包括主喷射管(1),其特征在于:所述主喷射管(1)的外侧安装有压力表(2),所述主喷射管(1)的进水端连接有脉冲阻尼器(3),所述脉冲阻尼器(3)的顶端安装有脉冲压力表(4),所述脉冲阻尼器(3)的进水端连接有分流端口(5),所述分流端口(5)的一端安装有柱塞泵(6),所述分流端口(5)的进水端连接有进水软管(7);
所述主喷射管(1)的外侧套接有固定环(9),所述固定环(9)的外侧连接有连接杆(10),所述连接杆(10)的一端转动连接有喷头夹盘(11),所述喷头夹盘(11)的内侧开设有卡接槽(12),所述卡接槽(12)的内侧嵌入有喷头(13),所述喷头(13)的外侧套接有限位环(14),所述喷头(13)的一端外侧套接有限位螺帽(15)。
2.根据权利要求1所述的水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,其特征在于:所述卡接槽(12)开设有若干个,若干个卡接槽(12)等角度开设在喷头夹盘(11)的内侧,所述限位环(14)的外径是卡接槽(12)内径的1.5倍。
3.根据权利要求1所述的水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,其特征在于:所述喷头夹盘(11)的内侧中部与连接杆(10)对应位置处开设有活动孔,所述喷头夹盘(11)通过活动孔与连接杆(10)转动连接。
4.根据权利要求1所述的水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,其特征在于:所述喷头(13)的外侧开设有螺纹,所述喷头(13)通过螺纹与螺纹连接槽(8)相连接,所述进水软管(7)与外部水源相连接,所述柱塞泵(6)的输入端与外部电源的输出端电性连接。
5.根据权利要求1所述的水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,其特征在于:所述主喷射管(1)的外侧套接有安装环(16),所述安装环(16)的外侧焊接有弧形杆(17),所述弧形杆(17)的内侧开设有滑动槽(18),所述弧形杆(17)的一侧设置有支撑板(19),所述支撑板(19)的一侧端面与滑动槽(18)对应位置处安装有夹紧螺杆(20),所述夹紧螺杆(20)的外侧螺纹连接有夹紧螺帽(21),所述支撑板(19)的底端焊接有支撑底座(22)。
6.根据权利要求5所述的水射流辅助激光蚀刻加工单晶硅装置,其特征在于:所述安装环(16)设置有两个,两个安装环(16)等距安装在主喷射管(1)的外侧。
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