[实用新型]一种晶圆厚度自动检测装置有效

专利信息
申请号: 202122571170.3 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN214893108U 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 邓仁陶;刁庆伟;陈万良;罗立超 申请(专利权)人: 成都先进功率半导体股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 韩洋
地址: 611731 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 厚度 自动检测 装置
【权利要求书】:

1.一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,包括真空吸盘(1)、传感器(3)、传感器安装板(2)以及支撑架(5),所述真空吸盘(1)用于固定晶圆;所述传感器(3)设置于所述真空吸盘(1)的正上方,用于测量所述传感器(3)到所述晶圆的垂直距离;所述传感器(3)设置于所述传感器安装板(2)上;所述支撑架(5)与所述传感器安装板(2)连接,所述传感器安装板(2)能够相对于所述支撑架(5)上下移动,以及所述传感器安装板(2)能够绕所述支撑架(5)转动。

2.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,所述传感器(3)滑动设置在所述传感器安装板(2)的上,且能够沿水平方向滑动。

3.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,包括通讯接口(8),所述通讯接口(8)与所述传感器(3)连接,作为所述传感器(3)采集的数据的输出接口。

4.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,包括电源接口(7),所述电源接口(7)与所述传感器(3)和真空吸盘(1)连接,作为所述传感器(3)和所述真空吸盘(1)的供电接口。

5.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,包括平台(4)和可调地脚(6),所述真空吸盘(1)和所述支撑架(5)固定在平台(4)顶部;所述可调地脚(6)固定在所述平台(4)底部,用于支撑所述平台(4)使其平衡。

6.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,所述传感器(3)为非接触式传感器。

7.根据权利要求1所述的一种晶圆厚度自动检测装置,其特征在于,所述传感器(3)数量N大于或等于2。

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