[实用新型]一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置

说明书

本实用新型涉及检测设备技术领域，具体涉及一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，包括激光头，所述激光头设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板；还包括光学系统，所述光学系统上方设置有探测器。本实用新型具有的有益效果是：将激光传感器安装在被测透明物质的正上方，漫反射板置于透明物质的底部，激光传感器发射激光并垂直透射被测透明物质，透射光在漫反射板表面发射，其中一路发射光在透明物质上表面发生折射，折射光在探测器上形成光斑，折射光斑位置与透明物质厚度相关，激光传感器通过测量折射光斑位置间接测量被测透明物质厚度；该种方法为非接触式测量，精度可达微米级。

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，具体涉及一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置。

背景技术

目前测量透明物质厚度的方法，主要有利用电容法、超声波反射和激光反射。

电容法检测电容极板间的透明物质厚度对介电常数的影响，通过测量电容大小确定透明物质厚度，因介电常数只能针对特定透明物质；超声波测量发射超声波和反射超声波时间差来确定超声波探头与透明物质表面的距离变化来测量透明物质厚度，测量精度低；激光反射法通过检测液面发射激光与反射激光相位差变化测量液面高度的变化，精度高，但是结构复杂。

实用新型内容

针对问题，本实用新型提供了一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，包括激光头，所述激光头设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板；还包括光学系统，所述光学系统上方设置有探测器。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述漫反射板与被测透明物质的下表面相贴合。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述激光头的水平高度与所述光学系统的水平高度相等，

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述激光头与光学系统位于漫反射板上方的距离为H，激光头与光学系统中心水平的水平距离为B，探测器位于光学系统上方的距离为f。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述激光头为激光位移传感器。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述激光位移传感器的测量中心距离为50mm。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述激光位移传感器的测量范围±15mm。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：激光位移传感器的测量精度30um。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述光学系统的中心所在竖直平面与所述探测器最左侧所在的竖直平面相重合。

作为本实用新型的再进一步技术方案是：所述漫反射板由硫酸钡材料制成。

本实用新型具有的有益效果是：将激光传感器安装在被测透明物质的正上方，漫反射板置于透明物质的底部，激光传感器发射激光并垂直透射被测透明物质，透射光在漫反射板表面发射，其中一路发射光在透明物质上表面发生折射，折射光在探测器上形成光斑，折射光斑位置与透明物质厚度相关，激光传感器通过测量折射光斑位置间接测量被测透明物质厚度；该种方法为非接触式测量，精度可达微米级；利用激光传感器来测量被测透明物质的厚度，测量精确，易于操作，成本较低，易于实现。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其它的附图。

图1是本实用新型激光传感器折射原理测量透明物质厚度的结构原理图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。