[实用新型]一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置有效
申请号: | 202121689362.8 | 申请日: | 2021-07-23 |
公开(公告)号: | CN216283276U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 卢俊辉;史丽娟;郑茗侨;余小飞 | 申请(专利权)人: | 江汉大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 张晓冬 |
地址: | 430056 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 传感器 折射 原理 测量 透明 物质 厚度 装置 | ||
1.一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,包括激光头(1),所述激光头(1)设置在被测透明物质的正上方,所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板(4);还包括光学系统(3),所述光学系统(3)上方设置有探测器(2)。
2.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述漫反射板(4)与被测透明物质的下表面相贴合。
3.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述激光头(1)的水平高度与所述光学系统(3)的水平高度相等。
4.根据权利要求3所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述激光头(1)与光学系统(3)位于漫反射板(4)上方的距离为H,激光头(1)与光学系统(3)中心水平的水平距离为B,探测器(2)位于光学系统(3)上方的距离为f。
5.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述激光头(1)为激光位移传感器。
6.根据权利要求5所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述激光位移传感器的测量中心距离为50mm。
7.根据权利要求5所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述激光位移传感器的测量范围±15mm。
8.根据权利要求5所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,激光位移传感器的测量精度30um。
9.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述光学系统(3)的中心所在竖直平面与所述探测器(2)最左侧所在的竖直平面相重合。
10.根据权利要求1-9任一所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置,其特征在于,所述漫反射板(4)由硫酸钡材料制成。
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