[实用新型]料盘检测机构

说明书

本实用新型涉及电子元件检测设备技术领域，特别是涉及一种料盘检测机构。该料盘检测机构包括基座、传送部件以及视觉检测组件，传送部件部分安装于基座，料盘具有用于存放电子元器件的待检测区域，视觉检测组件的检测区域小于待检测区域，当视觉检测组件进行检测时，视觉检测组件的检测区域落在待检测区域，传送部件能够驱动料盘或视觉检测组件运动，以改变检测区域在待检测区域处的位置，使视觉检测组件对待检测区域进行多次检测，直至完全覆盖待检测区域。本实用新型的优点在于：精度高、检测便捷且效率高。

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测设备技术领域，特别是涉及一种料盘检测机构。

背景技术

目前，市场上的电子产品越来越多，而电子产品中电子元器件的质量直接影响着电子产品的质量，电子元器件在生产完成后，通常需要对电子元器件进行测试、分选等操作。

电子元器件在分选和测试过程中是使用料盘存放和输送的，但测试过程中会出现在放料前料盘中还存在残余料或异物的情况，导致已测料和未测料或异物之间混杂，造成混料现象；为了避免所测试完成的电子元器件出现混料现象，需要采用检测机构对料盘进行检测。

但，现有料盘检测机构对整张料盘进行拍摄检测，检测范围过大，导致视野区域内打光不均匀，边缘处漏检率高，从而使检测精度降低，设备性能降低，检测的误检及漏检率较高，导致检测不够准确。

实用新型内容

有鉴于此，针对上述技术问题，有必要提供一种精度高、检测便捷且效率高的料盘检测机构。

为解决上述技术问题，本申请提供如下技术方案：

本申请提供一种料盘检测机构，所述料盘具有用于存放电子元器件的待检测区域，所述料盘检测机构包括基座、传送部件以及视觉检测组件，所述传送部件部分安装于所述基座；

所述视觉检测组件的检测区域小于所述待检测区域，当所述视觉检测组件进行检测时，所述视觉检测组件的检测区域落在所述待检测区域，所述传送部件能够驱动所述料盘或所述视觉检测组件运动，以改变所述检测区域在所述待检测区域处的位置，使所述视觉检测组件对所述待检测区域进行多次检测，直至完全覆盖所述待检测区域。

在本申请中，通过设置传送部件及视觉检测组件，能够对料盘的待检测区域进行分次、分区域拍摄，从而提高检测精度，降低误检率；同时，能够对料盘边缘处进行叠加拍摄处理，使检测更准确，适用范围广且效率高。

在其中一个实施例中，所述视觉检测组件的检测区域的长度小于所述待检测区域的长度，所述传送部件包括第一传送组件，所述第一传送组件安装于所述基座，且能够沿所述基座的长度方向运动，所述料盘置于所述第一传送组件上，并在所述第一传送组件的带动下，所述料盘能够沿所述基座的长度方向运动，以使所述视觉检测组件能够对所述待检测区域进行多次检测。

如此设置，第一传送组件能够带动料盘沿基座的长度方向运动，以使视觉检测组件能够沿料盘的长度方向对待检测区域进行多次检测，实现对料盘的待检测区域的分次拍摄。

在其中一个实施例中，所述料盘检测机构还包括多个到位检测结构，多个所述到位检测结构沿所述基座的长度方向依次安装于所述基座，且每个所述到位检测结构均能够沿所述基座的高度方向做升降运动，所述第一传送组件能够驱动所述料盘依次移动至每个所述到位检测结构处，所述到位检测结构能够对所述料盘的位置进行定位。

如此设置，当需要对料盘的待检测区域进行检测时，料盘随第一传送组件的传送而运动，到位检测结构能够对料盘的位置进行限位并检测料盘是否移动到位，当到位检测结构检测到料盘移动到位后，视觉检测组件对待检测区域进行拍摄，当需要沿料盘的长度方向对待检测区域继续进行检测时，料盘移动至下一个到位检测结构处，重复上述工作流程，以继续对待检测区域进行拍摄检测，从而对待检测区域进行分次拍摄；当到位检测结构多次均未检测到料盘移动到位，则会报警提示人工进行处理。