[实用新型]一种镜片多波长折射率测试装置有效
| 申请号: | 202120937326.2 | 申请日: | 2021-04-30 |
| 公开(公告)号: | CN217211358U | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
| 发明(设计)人: | 刘义兵;孙昭;刘力威;何骐任;杨燕飞 | 申请(专利权)人: | 宁波法里奥光学科技发展有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01N21/41;G01N21/45 |
| 代理公司: | 宁波甬致专利代理有限公司 33228 | 代理人: | 李迎春 |
| 地址: | 315000 浙江省宁*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 镜片 波长 折射率 测试 装置 | ||
1.一种镜片多波长折射率测试装置,包括被测镜片(1),其特征在于,镜片多波长折射率测试装置包括光源组件、信号探测模块、匀速往返运动的移动反射镜(2)和屈光度测量模块,其中,所述光源组件包括用于辅助屈光度测量的第一光源组件(3)、N组按照波长由低到高排列的第二光源组件(4)、超辐射发光的第三光源组件(5)、第一分光组件(6)、第二分光组件(7)、对应每组第二光源组件(4)设置的第三分光组件(8)以及聚焦镜头(9);所述屈光度测量模块包括哈特曼光阑(10)和面阵图像传感器(11);所述面阵图像传感器(11)、哈特曼光阑(10)、第一分光组件(6)、第二分光组件(7)、第一光源组件(3)沿第一光轴方向(A)由前至后依次设置;所述第三分光组件(8)设在第二分光组件(7)与第三光源组件(5)之间,所述第二光源组件(4)对应第三分光组件(8)设置,所述聚焦镜头(9)设在第二分光组件(7)与邻近第二分光组件(7)的第三分光组件(8)之间,该聚焦镜头(9)的焦面位于第一分光组件(6)与哈特曼光阑(10)之间用于放置被测镜片(1);所述移动反射镜(2)对应设在第一分光组件(6)的一侧,所述信号探测模块设在第一分光组件(6)的另一侧;所述第一光源组件(3)沿第一光轴方向(A)传输的光束依次透射过第二分光组件(7)、第一分光组件(6)、被测镜片(1)、哈特曼光阑(10)后达到面阵图像传感器(11)中,用于校正被测镜片(1)的中心位置和测试被测镜片的光焦度;所述第二光源组件(4)、第三光源组件(5)的光束在聚焦镜头(9)的聚焦、第二分光组件(7)的反射后沿第一光轴方向(A)传输,接着由第一分光组件(6)分为两束,一束反射光束到投射到移动反射镜(2)并由移动反射镜(2)反射原路返回,另一束透射光束透射到哈特曼光阑(10)并由哈特曼光阑(10)反射返回,两束光束经第一分光组件(6)传输到信号探测模块中,用于检测光干涉信号。
2.根据权利要求1所述的一种镜片多波长折射率测试装置,其特征在于,所述信号探测模块包括用于探测接收第三光源组件(5)发射光的第二光电探测组件(12)和用于分别探测接收对应第二光源组件(4)发射光的第一光电探测组件(13),所述第二光电探测组件(12)之前设有第四分光片(15),该第四分光片(15)用于透射第二光电探测组件(12)探测波长并反射小于第二光电探测组件(12)探测波长的其它光束;所述第一光电探测组件(13)按照探测波长从低到高的顺序依次设在第四分光片(15)反射方向的一侧,且每组第一光电探测组件(13)之前分别设有第五分光片(16),所述第四分光片(15)、第五分光片(16)的中心沿着与第一光轴方向(A)平行的轴由前至后依次设置,所述第五分光片(16)用于将与相应第一光电探测组件(13)探测波长的光束反射到对应的第一光电探测组件(13)中,并透射其它大于第一光电探测组件(13)探测波长的其它光束。
3.根据权利要求2所述的一种镜片多波长折射率测试装置,其特征在于,所述第一光源组件(3)包括沿第一光轴方向(A)由前至后依次设置的第一准直透镜(3.1)、第一透光孔(3.2)、第一测试光源(3.3),所述第一测试光源(3.3)设在第一准直透镜(3.1)的后焦点上;所述第二光源组件(4)包括平行于第一光轴方向(A)由前至后依次设置的第二准直透镜(4.1)、第二透光孔(4.2)、第二测试光源(4.3),所述第二测试光源(4.3)设在第二准直透镜(4.1)的后焦点上;所述第三光源组件(5)包括垂直与第一光轴方向(A)依次设置的第三准直透镜(5.1)、第三测试光源(5.2),所述第三测试光源(5.2)设置在第三准直透镜(5.1)的后焦点上。
4.根据权利要求3所述的一种镜片多波长折射率测试装置,其特征在于,所述第二测试光源(4.3)为单色光的LED测试光源,N≥1。
5.根据权利要求3所述的一种镜片多波长折射率测试装置,其特征在于,所述第二测试光源(4.3)为白光光源,N=1,且所述第一光电探测组件(13)与第五分光片(16)之间以及第二光电探测组件(12)与第四分光片(15)之间分别设有用于透射对应波长的滤光片(14)。
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