[实用新型]一种用于抛光和研磨的基准块结构有效
| 申请号: | 202120874632.6 | 申请日: | 2021-04-26 |
| 公开(公告)号: | CN215433161U | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
| 发明(设计)人: | 寇明虎 | 申请(专利权)人: | 北京特思迪设备制造有限公司 |
| 主分类号: | B24B37/34 | 分类号: | B24B37/34 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 101300 北京市顺义区顺*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 抛光 研磨 基准 结构 | ||
本实用新型公开了一种用于抛光和研磨中的基准块结构,其特征在于:该结构包括基准块和固定螺栓,其中所述固定螺栓固定安装在磨盘的中心位置处,所述固定螺栓上端中心位置处设置有安装槽,所述基准块固定安装在固定螺栓的凹槽内,所述基准块材质采用人造金刚石PCD材质,所述固定螺栓的安装槽底面上设置有若干个下凹的凹槽。避免了加工因旋转摩擦导致的破损和划伤传感器探测头,解决了目前传感器探测头与基准块摩擦导致的磨损情况,延长了传感器探测头的使用寿命,同时提高了检测精度。
技术领域
本实用新型属于加工制造技术领域,尤其涉及一种用于抛光和研磨的基准块结构。
背景技术
现有技术中,在研磨抛光大盘的中心位置固定安装固定螺栓,基准块位于固定螺栓上表面中心位置内,目前的基准块大多采用YT15硬质合金材质。
一些抛光研磨设备设置有上下两个大盘(磨盘),其中一个大盘的中心位置安装随大盘进行旋转的基准块,另一个大盘的中心位置上设置传感器探测头,在加工过程准备阶段,传感器检测头压至基准块上表面,随着工件的加工,工件厚度会逐渐变薄,传感器检测头压至基准块上表面的长度也会随之变化,依此来显示加工进度。但是因基准块与固定螺栓的安装方式及基准块的材质硬度不够,长时间的加工会导致了基准块移动或其表面破损,进而会造成了传感器检测头损坏,缩短了使用寿命,影响了测量精度,造成一定的经济损失。
实用新型内容
针对现有技术存在的问题,本实用新型提供了一种用于抛光机和研磨机的基准块结构,解决了现有因基准块位置变化或硬度不够导致的加工中表面磨损从而造成传感器探测头磨擦损坏的情况,本实用新型的使用,延长了传感器探测头的使用寿命,从而提高了检测精度,减少了经济损失。
本实用新型采用以下技术方案:
一种用于抛光和研磨中的基准块结构,其特殊之处在于:该结构包括基准块和固定螺栓,其中所述固定螺栓固定安装在磨盘的中心位置处,所述固定螺栓上端中心位置处设置有安装槽,所述基准块固定安装在固定螺栓的凹槽内,所述基准块材质采用人造金刚石PCD材质,所述固定螺栓的安装槽底面上设置有若干个下凹的凹槽。
进一步地,所述基准块焊接在所述固定螺栓上端中心位置处的安装槽上。
进一步地:所述基准块与所述固定螺栓的安装槽四周设置有间隙。
进一步地:所述基准块的上表面与所述固定螺栓头部的下端面的平行度为1-3μmm。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1.本实用新型设置基准块、固定螺栓和安装槽配合使用,基准块材质采用人造金刚石PCD材质,增加了基准块的硬度,避免了加工因旋转摩擦导致的破损和划伤传感器探测头,解决了目前传感器探测头与基准块摩擦导致的磨损情况,延长了传感器探测头的使用寿命,同时提高了检测精度。
2.本实用新型通过基准块焊接在固定螺栓上端中心位置内,固定了基准块相对固定螺栓的位置,避免了因位置轻微改变导致的探测不精确及划伤传感器探测头。
3.本实用新型通过设置基准块与固定螺栓的安装槽四周设置有间隙不接触,预留凹槽用于在焊接基准块及固定螺栓时吸收焊接熔剂,避免焊接导致的溶剂溢流。
4.本实用新型通过设置基准块的上表面与所述固定螺栓头部的下端面的平行度为1-3μmm,保证了加工中传感器检测头检测的加工精度,减少了不必要的误差导致的经济损失。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的结构示意图。
图2是本实用新型实施例提供基准块结构的正面图。
图3是本实用新型实施例基准块结构的剖视图。
图4是图3中I的放大图。
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