[实用新型]一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置有效
申请号: | 202120604839.1 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN214333823U | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 黄晶晶;路雄;陶茂盛;黄智;王文涛 | 申请(专利权)人: | 中国地震局第二监测中心 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01M11/04 |
代理公司: | 北京睿康信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11685 | 代理人: | 李建国 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 调节 基座 光学 误差 校正 装置 | ||
本实用新型提供的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置,包括主体箱,所述主体箱内设置有光路单元,所述主体箱上设置有对中标志调整工作台和基座架。本实用新型的优点在于:降低了校正难度,减少了校正人员数量且进一步提高工作效率。
技术领域
本实用新型涉及测绘仪器计量技术领域,具体为一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置。
背景技术
经纬仪、全站仪以及GPS接收机作为常规的精密测量仪器,广泛应用于军事、建筑等诸多领域,在测量过程中需要在同一原点处多次架设相同或不同的仪器。为保证观测数据的质量,对于测绘原点的二次定位精度应该满足相应的技术要求,其中仪器基座的光学对中器的对中误差是影响二次定位精度指标的重要因素,满足基座光学对中器精度具有极其重要的意义。仪器出厂时会给出这些精度指标,称为标称精度。标称精度是相对一批同规格仪器的一个统计概念,一台仪器的实际精度与标称精度会存在差别。另外,仪器在经过一段时间的使用后,仪器同轴度、光路等参数也会随之发生变化。所以,使用中的测绘仪器基座也需要经常进行检验校准,以便使用者及时掌握仪器的工作状态,从而确保观测数据的质量。
根据现有检定规程《JJG 414-2011光学经纬仪》中的5.7及7.3.9与《JJG 100-2003全站型电子速测仪》中4.10的技术要求,光学对中器在进行校准修正时,需要使其准确照准仪器基座下方对中标志(图2)的十字中心。由于上述检定要求在校正基座光学对中器时其与对中标志的距离应大于1.5m,所以目前采用的校正方式是由两名校正人员配合,在三脚架上架设基座,在地面放置对中标志来满足检定规程的距离要求,其中一名校正人员通过基座的光学对中器望远镜目镜观查光学对中器的十字中心与对中标志的十字中心的相对位置,另一名校正人员在瞄准人员的指挥下不断的调整对中标志的位置,使二者十字中心相互重合,由于透镜成像、调整距离以及人员信息交流的影响,容易造成调整方向相反、位置调整过量的问题。这种操作方式极大地影响校正人员的工作效率,进而对检定效率造成不良影响。
因此,如何由一名操作人员直接进行目标的瞄准以及对中标志的移动,是提高对中器校正效率和提升对中器校正质量的关键。
实用新型内容
为解决现有技术中的这个技术缺陷,本实用新型提供的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置,包括主体箱,所述主体箱内设置有光路单元,所述主体箱上设置有对中标志调整工作台和基座架。
进一步的,所述光路单元为固定设置在主体箱底部的一组三棱镜盒,所述三棱镜盒分别倾斜设置有三棱镜,所述三棱镜盒上设置有用于调节所述三棱镜倾斜角度的三棱镜调节螺丝。
进一步的,所述对中标志调整工作台包括转动台、X轴运动轨道、Y轴运动台和对中标志盒。
进一步的,所述转动台包括轴承座、推力球轴承、连接空管和转动盘,所述轴承座侧壁上设置有定位螺栓。
进一步的,所述X轴运动轨道包括支架、螺纹杆,所述支架固定在所述转动盘上,所述螺纹杆一端设置有调节杆。
进一步的,所述Y轴运动台包括Y轴运动轨道、上平台和下平台,所述下平台通过连接杆固定连接在所述螺纹杆上。
进一步的,所述对中标志盒设置在所述上平台顶部,所述对中标志盒中设置有对中标志。
进一步的,所述基座架包括上下两个台面。
综上所述,本实用新型的有益效果包括:
一、通过三棱镜对光路进行了调整,在保证了校正光路距离的要求下,缩短了基座光学对中器目镜与对中标志之间的调整距离,从而降低了校正难度,减少了校正人员数量且进一步提高工作效率。
二、通过设置转动台,矫正了图像透过透镜形成倒像,使对中标志实际运动方向与成像运动方向相反的问题。
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