[实用新型]一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备

权利要求书

1.一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：包括固定板（1），所述固定板（1）顶部设有两个L板（3），所述L板（3）以固定板（1）顶部中心呈中心对称放置，所述L板（3）均通过螺钉固定在固定板（1）上，所述固定板（1）上方左侧设有导光面（4），所述导光面（4）右面设有两个光电二极管（5），所述光电二极管（5）为上下均匀分布，所述光电二极管（5）均通过螺钉固定在导光面（4）上，所述光电二极管（5）右侧设有光发生矩阵（7），所述光发生矩阵（7）通过螺钉固定在L板（3）上，所述L板（3）之间设有螺栓（6）。

2.根据权利要求1所述的一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：所述L板（3）为“L”形。

3.根据权利要求1所述的一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：所述导光面（4）为导光器材制成。

4.根据权利要求1所述的一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：所述螺栓（6）底部通过螺纹连接有螺帽（2）。

5.根据权利要求1所述的一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：所述光发生矩阵（7）分为纵向扫描单元（8）和横向扫描单元（9），所述纵向扫描单元（8）与横向扫描单元（9）为上下左右交错分布。

6.根据权利要求1所述的一种使用光学法非接触测量螺栓位移的设备，其特征在于：所述光电二极管（5）和光发生矩阵（7）均可采用单片机等控制单元进行控制。