[实用新型]一种PCIE高速信号测试探头辅助治具

说明书

本实用新型公开了一种PCIE高速信号测试探头辅助治具，包括载板，载板上设置有至少两组测试组件，测试组件包括依次连接的焊盘、导线、连接件以及探针，探针的一端设置于连接件与载板之间，探针能够绕连接件转动，并通过连接件抵触固定，探针的另一端伸出载板的边缘，探针通过连接件与导线连通。本实用新型通过焊盘和探针配合，无需在单板上焊接引线，将PCIE高速信号测试探头与对应焊盘焊接，探针搭接在对应差分信号线上即可，有效避免了在待测单板上焊接而可能导致的焊接不到位、焊接时间太长，焊接短路等等问题，并且探针搭接可以尽量靠近芯片的测试点，进而保证测试波形失真最小，得到最佳的测试波形，进一步提高了测试的准确性。

技术领域

本实用新型涉及测试辅助治具技术领域，尤其涉及一种PCIE高速信号测试探头辅助治具。

背景技术

目前在ONT、交换机、OLT等产品中经常用到PCIE高速总线，用于单板内芯片间的高速信号传输。在测试PCIE信号质量时，需要测量PCIE数据和时钟信号，其中，PCIE时钟和数据信号均为差分信号，在抓取数据时，需要将差分探棒的探头焊接在单板的信号线上进行测量，再在示波器上抓取想要的波形，然后按照实际速率选择相应的眼图模板来测量PCIE信号各项待测量参数。实际测试过程经常会出现以下情况：(1)测试所用的探棒的探头线没有尽量焊接在信号传输到的最终端，或者焊接所使用的的探头线过长，导致测试眼图打到测试模板，最终测试结果不通过；(2)由于待焊接的差分信号线间距很短，并且差分线很细，导致焊接探头线花费时间过长，增加测试时间，大大降低了测试效率；(3)由于待测板差分线间距很小，导致焊接不到位，引起主板短路不开机，增加单板调试时间，进而降低测试效率。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案，以至少解决其中一个问题。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种PCIE高速信号测试探头辅助治具，以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种PCIE高速信号测试探头辅助治具，包括载板，所述载板上设置有至少两组测试组件，所述测试组件包括依次连接的焊盘、导线、连接件以及探针，所述探针的一端设置于所述连接件与所述载板之间，所述探针能够绕所述连接件转动，并通过所述连接件抵触固定，所述探针的另一端伸出所述载板的边缘，所述探针通过所述连接件与所述导线连通。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述导线的一端与焊盘连接，另一端与所述连接件缠绕连接。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述连接件与所述载板螺纹连接。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述连接件为螺丝。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述焊盘与所述连接件的距离为0.6cm±0.2cm。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述探针的长度为0.5～0.8cm。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述焊盘和所述探针的材质为银或铜。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述载板上设置有两组所述测试组件，两组所述测试组件平行设置。

本实用新型的一个较佳实施例中，还包括固定件，所述固定件用于将所述PCIE高速信号测试探头与所述载板可拆卸连接。

本实用新型的一个较佳实施例中，所述探针的一端与所述连接件套接，所述连接件旋转固定所述探针。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过焊盘和探针配合，无需在单板上焊接引线，将PCIE高速信号测试探头与对应焊盘焊接，探针搭接在对应差分信号线上即可，有效避免了在待测单板上焊接而可能导致的焊接不到位、焊接时间太长，焊接短路等等问题，并且探针搭接可以尽量靠近芯片的测试点，进而保证测试波形失真最小，得到最佳的测试波形，进一步提高了测试的准确性。