[实用新型]一种PCIE高速信号测试探头辅助治具有效
申请号: | 202120369020.1 | 申请日: | 2021-02-10 |
公开(公告)号: | CN215005501U | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 梅旭升 | 申请(专利权)人: | 上海剑桥科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
代理公司: | 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 | 代理人: | 苏杰 |
地址: | 201100 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcie 高速 信号 测试 探头 辅助 | ||
1.一种PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,包括载板,所述载板上设置有至少两组测试组件,所述测试组件包括依次连接的焊盘、导线、连接件以及探针,所述探针的一端设置于所述连接件与所述载板之间,所述探针能够绕所述连接件转动,并通过所述连接件抵触固定,所述探针的另一端伸出所述载板的边缘,所述探针通过所述连接件与所述导线连通。
2.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述导线的一端与焊盘连接,另一端与所述连接件缠绕连接。
3.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述连接件与所述载板螺纹连接。
4.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述连接件为螺丝。
5.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述焊盘与所述连接件的距离为0.6cm±0.2cm。
6.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述探针的长度为0.5~0.8cm。
7.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述焊盘和所述探针的材质为银或铜。
8.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述载板上设置有两组所述测试组件,两组所述测试组件平行设置。
9.根据权利要求1所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,还包括固定件,所述固定件用于将所述PCIE高速信号测试探头与所述载板可拆卸连接。
10.根据权利要求4所述的PCIE高速信号测试探头辅助治具,其特征在于,所述探针的一端与所述连接件套接,所述连接件旋转固定所述探针。
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