[发明专利]一种相干激光频率测量方法及装置在审
| 申请号: | 202111672357.0 | 申请日: | 2021-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN114397026A | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
| 发明(设计)人: | 杨宏雷;张升康;赵环;付洋;吴寒旭;杨文哲;赵伟楠 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00 |
| 代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 葛鹏 |
| 地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 相干 激光 频率 测量方法 装置 | ||
本发明公开了一种相干激光频率测量方法及装置,属于相干激光频率测量方法,所述的一种相干激光频率测量方法包括以下步骤:步骤一、光频测量系统建立,步骤二、光学拍频频率的符号确定,步骤三载波包络偏置频率的符号确定;步骤四、计算相干激光频率。本方法能够完成不同光频梳设定参数下的光频测量,满足激光频率快速测量应用需求,为实时激光测量奠定基础。
技术领域
本发明属于相干激光频率测量方法,特别涉及一种相干激光频率测量方法及装置。
背景技术
当前,测量光学频率(ν)普遍利用光频梳测量装置,通过测量单频激光与光频梳之间的光学拍频频率(fbeat),以及结合光频梳重复频率(frep)及载波包络偏置频率(fceo),综合计算待测单频激光频率,即ν=N·frep+fceo+fbeat。然而,在实际测量中,还需要确定单频激光所处光频梳纵模的序数(N)。为此,需要调节光频梳重复频率,完成不同光频梳设定参数下的光频测量。可以看出,上述测量方式无法满足实时光频测量。
发明内容
本方法能够完成不同光频梳设定参数下的光频测量,满足激光频率快速测量应用需求,为实时激光测量奠定基础,满足快速实时激光测频应用需求。
为了实现上述目的,本发明采用以下方法实现的:所述的相干激光频率测量方法采用以下几个步骤实现的,包括以下步骤
步骤一:建立光频测量系统,利用两台光频梳系统,将待测单频激光分别连接至两台光频梳,所述光频梳系统的重复频率分别为frep1和frep2(frep1≈frep2>0且frep1=frep,frep2=frep+Δfrep);载波包络偏置频率分别为fceo1和fceo2(fceo1=fceo,fceo2=fceo+Δfceo);利用光学拍频探测模块分别获得光学拍频频率fbeat1和fbeat2(|fbeat1|≤frep1/2且|fbeat2|≤frep2/2);步骤二:利用所述两台光频梳系统中载波包络偏置频率锁相环,分别独立锁定载波包络偏置频率fceo1和fceo2,通过增大或减小重复频率frep1和frep2,根据光学拍频频率fbeat1和fbeat2的变化趋势来确定所述光学拍频频率的符号;
步骤三:利用两台光频梳系统中的重复频率锁相环,分别独立锁定重复频率frep1和frep2,根据光学拍频频率fbeat1和fbeat2的变化趋势来确定载波包络偏置频率的符号;
步骤四:通过扫描相干激光频率,计算光学拍频频率差绝对值,进一步计算相干激光在两台光频梳频域内纵模对序数,从而计算相干激光频率。
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