[发明专利]器件寿命检测设备在审

专利信息
申请号: 202111661318.0 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114487653A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 杜晓光 申请(专利权)人: 深圳市联洲国际技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 黄德海
地址: 518109 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 器件 寿命 检测 设备
【说明书】:

发明公开了一种器件寿命检测设备,包括:检测模块,用于对多个待检测器件进行实时检测,获取检测结果;检测结果包括每个待检测器件的多个工作参数;主控芯片,用于接收检测模块发送的检测结果,并基于检测结果对每个待检测器件的寿命进行分析,确定每个待检测器件的剩余寿命;备份切换控制模块,备份切换控制模块设置在主控芯片的内部,备份切换控制模块基于剩余寿命确定待检测器件的备份器件的启闭;可以提供与实际相符的剩余寿命和无故障工作时间数据,并预警可能出现的故障情况;同时,可通过大数据收集对某些用户区域,使用习惯等方面进行汇总分析,在结构上进行针对性处理,降低成本,提高用户满意度。

技术领域

本发明属于检测设备技术领域,尤其涉及一种器件寿命检测设备。

背景技术

目前的路由器等终端信息,在设计时需要考虑设备的可靠性,例如,器件寿命,整机无故障工作时间等,并根据设计中的各项电气参数和温度特性进行计算,保证设备的工作时间和器件寿命符合要求;

但是,由于客户的使用环境千差万别,用户在实际使用条件下的器件寿命与整机无故障工作时间与设计值会有较大差异,存在过设计浪费成本或设计不满足需求导致设备在用户端提前出故障的问题。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本发明的一个目的在于提出一种器件寿命检测设备。

为了解决上述技术问题,本发明的实施例提供如下技术方案:

一种器件寿命检测设备,包括:

检测模块,用于对多个待检测器件进行实时检测,获取检测结果;所述检测结果包括每个所述待检测器件的多个工作参数;

主控芯片,用于接收所述检测模块发送的所述检测结果,并基于所述检测结果对每个所述待检测器件的寿命进行分析,确定每个所述待检测器件的剩余寿命;

备份切换控制模块,所述备份切换控制模块设置在所述主控芯片的内部,所述备份切换控制模块基于所述剩余寿命确定所述待检测器件的备份器件的启闭。

可选的,所述检测模块包括电压检测单元;

所述电压检测单元与所述主控芯片连接,所述电压检测单元用于对多个所述待检测器件的电压进行检测,获取每个所述待检测器件的电压检测结果,并将所述检测结果发送至所述主控芯片。

可选的,所述检测模块还包括电流检测单元;

所述电流检测单元与所述主控芯片连接,所述电流检测单元用于对多个所述待检测器件的电流进行检测,获取每个所述待检测器件的电流检测结果,并将所述电流检测结果发送至所述主控芯片。

可选的,所述电压检测单元以及电流检测单元设有第一检测电路;

所述第一检测电路包括电阻以及第一运算放大器;

所述待检测器件与所述电阻的第一端以及所述第一运算放大器第一同相输入端连接;

所述电阻的第一端与所述第一同相输入端连接,所述电阻的第二端与所述第一运算放大器的第二同相输入端连接;

所述第一运算放大器的反相输出端与所述主控芯片连接。

可选的,所述检测模块还包括温度检测单元;

所述温度检测单元与所述主控芯片连接,所述温度检测单元用于对多个所述待检测器件的温度进行检测,获取每个所述待检测器件的温度检测结果,并将所述温度检测结果发送至所述主控芯片。

可选的,所述温度检测单元设有第二检测电路;

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