[发明专利]器件寿命检测设备在审
申请号: | 202111661318.0 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114487653A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 杜晓光 | 申请(专利权)人: | 深圳市联洲国际技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 518109 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 寿命 检测 设备 | ||
1.一种器件寿命检测设备,其特征在于,包括:
检测模块,用于对多个待检测器件进行实时检测,获取检测结果;所述检测结果包括每个所述待检测器件的多个工作参数;
主控芯片,用于接收所述检测模块发送的所述检测结果,并基于所述检测结果对每个所述待检测器件的寿命进行分析,确定每个所述待检测器件的剩余寿命;
备份切换控制模块,所述备份切换控制模块设置在所述主控芯片的内部,所述备份切换控制模块基于所述剩余寿命确定所述待检测器件的备份器件的启闭。
2.根据权利要求1所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述检测模块包括电压检测单元;
所述电压检测单元与所述主控芯片连接,所述电压检测单元用于对多个所述待检测器件的电压进行检测,获取每个所述待检测器件的电压检测结果,并将所述检测结果发送至所述主控芯片。
3.根据权利要求2所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述检测模块还包括电流检测单元;
所述电流检测单元与所述主控芯片连接,所述电流检测单元用于对多个所述待检测器件的电流进行检测,获取每个所述待检测器件的电流检测结果,并将所述电流检测结果发送至所述主控芯片。
4.根据权利要求3所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述电压检测单元以及电流检测单元设有第一检测电路;
所述第一检测电路包括电阻以及第一运算放大器;
所述待检测器件与所述电阻的第一端以及所述第一运算放大器第一同相输入端连接;
所述电阻的第一端与所述第一同相输入端连接,所述电阻的第二端与所述第一运算放大器的第二同相输入端连接;
所述第一运算放大器的反相输出端与所述主控芯片连接。
5.根据权利要求1所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述检测模块还包括温度检测单元;
所述温度检测单元与所述主控芯片连接,所述温度检测单元用于对多个所述待检测器件的温度进行检测,获取每个所述待检测器件的温度检测结果,并将所述温度检测结果发送至所述主控芯片。
6.根据权利要求5所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述温度检测单元设有第二检测电路;
所述第二检测电路包括第二运算放大器,所述待检测器件与所述第二运算放大器的第一同相输入端连接,所述第二运算放大器的第二同相输入端接地,所述第二运算放大器的反相输出端与所述主控芯片连接。
7.根据权利要求1所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述主控芯片设有算法模块;
所述算法模块获取每个所述待检测器件的电压检测结果、电流检测结果以及温度检测结果,并基于每个所述待检测器件的所述电压检测结果、电流检测结果以及温度检测结果,确定每个所述待检测器件的剩余寿命。
8.根据权利要求1所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述主控芯片还包括比较模块;
所述比较模块获取每个所述待检测器件的所述剩余寿命,并将每个所述待检测器件的所述剩余寿命与每个所述待检测器件的所述剩余寿命的门限值进行比较,获得比较结果,然后所述比较模块将所述比较结果发送至所述主控芯片。
9.根据权利要求8所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述待检测器件包括通信模块、存储模块、电源模块以及预警模块。
10.根据权利要求9所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述预警模块与所述主控芯片连接;
当所述比较结果为所述剩余寿命低于所述剩余寿命的门限值,则所述主控芯片控制所述预警模块进行报警。
11.根据权利要求1所述的器件寿命检测设备,其特征在于,所述备份切换控制模块设有备份电路;
所述备份电路包括继电器;
所述继电器的线圈端与所述主控芯片连接;
所述继电器的触点端与所述待检测器件连接或与所述待检测器件的备用器件连接。
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