[发明专利]一种电镜二值化图像对比分析方法

权利要求书

1.一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：其对比分析方法包括以下步骤：

A、获取所有要测量帧图位置，并根据背景范围去除背景像素，再对去除背景后的图像进行二值化处理；

B、识别图像中所有的线段，合成图像中所有的特征，并计算特征的图像属性；

C、把特征转化为颗粒，并对颗粒进行其他处理和分析后，将这些结构化数据储存到数据库；

D、选择大颗粒进行X射线分析；

E、将图像缩放到一定大小，并转化为灰阶，再计算所有像素平均值；

F、比较像素的灰度，并计算哈希值。

2.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤A中的图像二值化处理方式为：读取降质文档图像，并对降质文档图像进行灰度变换，从而输出灰度级为256的灰度图像。

3.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤D中的X射线分析方式为：按Bragg方程进行色散，并测量第一级光谱n=1，检测器角度=2，分光晶体与检测器同步转动进行扫描，扫描过程中需要使用到X射线管（光源）、晶体分光器、检测器和记录显示，且X射线管（光源）包括分析重元素：钨靶，分析轻元素：铬靶，靶材的原子序数越大，X光管压越高，连续谱强度越大；晶体分光器包括晶体色散作用，λ=2dsin，平面晶体分光器，弯面晶体分光器；检测器包括闪烁计数器，瞬间发光—光电倍增管，正比计数器（充气型），工作气为空气，抑制气为甲烷，利用X射线使气体电离的作用，辐射能转化电能；记录显示包括记录显示：放大器、脉冲高度分析器、显示，三种检测器给出脉冲信号，脉冲高度分析器：分离次级衍射线，杂质线，散射线，X射线吸收光谱分析。

4.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤E中的图像大小为8*8，灰阶为256级灰度。

5.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤F中像素灰度的比较方式为：将每个像素的灰度，与平均值进行比较，大于或等于平均值记为1，小于平均值记为0。

6.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤F中哈希值的计算方式为：将比较结果组合在一起，构成一个256位的整数，得到X射线分析后的大颗粒以后，就可以对比不同的图像，看看256位中有多少位是不一样的，如果不相同的数据位数不超过5，就说明两张图像很相似；如果大于10，就说明这是两张不同的图像。

7.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤F之后需要使用外置储存机构对数值进行储存，且储存机构包括内部设置数据储存器的外壳，且外壳底部的四周均设置有内部开设安装孔的安装脚，同时，外壳的表面设置有吸风机，且吸风机的输入端通过管道与外壳的一侧连通，外壳的另一侧开设有内部设置滤网的通风孔。