[发明专利]确定电极放电间隙的方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111615246.6 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114493128A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 成亚飞;刘单 申请(专利权)人: 深圳模德宝科技有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04;G06F17/11
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 梁立耀
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 确定 电极 放电 间隙 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请实施例适用于放电加工技术领域,公开了一种确定电极放电间隙的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,该方法包括:获取待调整电极的第一方向的第一检测结果集和第二方向的第二检测结果集,第一检测结果集包括至少一个第一检测点的第一检测值,第二检测结果集包括至少一个第二检测点的第二检测值;根据第一检测值,确定第一方向的第一目标放电间隙;根据第二检测值,确定第二方向的第二目标放电间隙。可见,相较于现有通过人为确定放电间隙,本申请实施例通过获取待调整电极的电极检测值,并根据电极检测值自动确定出第一方向和第二方向的放电间隙,准确率更高。

技术领域

本申请属于放电加工技术领域,尤其涉及一种确定电极放电间隙的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

目前,在电极放电加工完成后,通常是由操作人员基于经验值,人为对电极放电间隙进行调整。但是,不同的模具精度,电极类型,粗精类型,电极检测值所对应的放电间隙取值不同,并且,不同的操作人员经验也不同,进而导致操作人员选择的放电间隙同实际的加工间隙相差较大。也就是说,根据个人经验确定电极放电间隙的准确性低,可能会严重影响了放电加工的品质,提高了异常成本的风险,从而带来经济损失。

发明内容

本申请实施例提供一种确定电极放电间隙的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,可以解决现有技术中由于人为确定电极放电间隙导致准确率低下的问题。

第一方面,本申请实施例提供一种确定电极放电间隙的方法,包括:

获取待调整电极的第一方向的第一检测结果集和第二方向的第二检测结果集,第一检测结果集包括至少一个第一检测点的第一检测值,第二检测结果集包括至少一个第二检测点的第二检测值;

根据第一检测值,确定第一方向的第一目标放电间隙;

根据第二检测值,确定第二方向的第二目标放电间隙。

由上可见,本申请实施例通过获取待调整电极的电极检测值,并根据电极检测值自动确定出第一方向和第二方向的放电间隙,相较于现有通过人为确定放电间隙,准确率更高。

在第一方面的一些可能的实现方式中,根据第一检测值,确定第一方向的第一目标放电间隙,包括:

若第一检测点的数量等于一,将第一检测值确定为第一目标放电间隙;

若第一检测点的数量大于一,计算至少两个第一检测值的第一平均值;

计算至少两个第一检测点的编号的第二平均值,并计算每个第一检测点的编号和第二平均值之间的第一差值;

针对每个第一检测点,计算第一检测点的第一检测值和第一平均值之间的第二差值后,将第一差值和第二差值相乘,得到第一检测点的第一乘积;

将每个第一检测点的第一乘积相加,得到第一相加和,并将每个第一检测点的第一差值的平方相加,得到第二相加和;

将第二平均值和第一相加和相乘,得到第二乘积,并计算第二乘积和第二相加和的第一比值;

将第一平均值和第一比值相减,得到第一目标放电间隙。

在第一方面的一些可能的实现方式中,根据第二检测值,确定第二方向的第二目标放电间隙,包括:

若第二检测点的数量等于一,将第二检测值确定为第二目标放电间隙;

若第二检测点的数量大于一,计算至少两个第二检测值的第三平均值;

计算至少两个第二检测点的编号的第四平均值,并计算每个第二检测点的编号和第三平均值之间的第三差值;

针对每个第二检测点,计算第二检测点的第二检测值和第三平均值之间的第四差值后,将第三差值和第四差值相乘,得到第一检测点的第三乘积;

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