[发明专利]确定电极放电间隙的方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种确定电极放电间隙的方法，其特征在于，包括：

获取待调整电极的第一方向的第一检测结果集和第二方向的第二检测结果集，所述第一检测结果集包括至少一个第一检测点的第一检测值，所述第二检测结果集包括至少一个第二检测点的第二检测值；

根据所述第一检测值，确定所述第一方向的第一目标放电间隙；

根据所述第二检测值，确定所述第二方向的第二目标放电间隙。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一检测值，确定所述第一方向的第一目标放电间隙，包括：

若所述第一检测点的数量等于一，将所述第一检测值确定为所述第一目标放电间隙；

若所述第一检测点的数量大于一，计算至少两个所述第一检测值的第一平均值；

计算至少两个所述第一检测点的编号的第二平均值，并计算每个所述第一检测点的编号和所述第二平均值之间的第一差值；

针对每个所述第一检测点，计算所述第一检测点的所述第一检测值和所述第一平均值之间的第二差值后，将所述第一差值和所述第二差值相乘，得到所述第一检测点的第一乘积；

将每个所述第一检测点的所述第一乘积相加，得到第一相加和，并将每个所述第一检测点的第一差值的平方相加，得到第二相加和；

将所述第二平均值和所述第一相加和相乘，得到第二乘积，并计算所述第二乘积和所述第二相加和的第一比值；

将所述第一平均值和所述第一比值相减，得到所述第一目标放电间隙。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第二检测值，确定所述第二方向的第二目标放电间隙，包括：

若所述第二检测点的数量等于一，将所述第二检测值确定为所述第二目标放电间隙；

若所述第二检测点的数量大于一，计算至少两个所述第二检测值的第三平均值；

计算至少两个所述第二检测点的编号的第四平均值，并计算每个所述第二检测点的编号和所述第三平均值之间的第三差值；

针对每个所述第二检测点，计算所述第二检测点的所述第二检测值和所述第三平均值之间的第四差值后，将所述第三差值和所述第四差值相乘，得到所述第一检测点的第三乘积；

将每个所述第二检测点的所述第三乘积相加，得到第三相加和，并将每个所述第一检测点的第三差值的平方相加，得到第四相加和；

将所述第四平均值和所述第三相加和相乘，得到第四乘积，并计算所述第四乘积和所述第四相加和的第二比值；

将所述第三平均值和所述第二比值相减，得到所述第二目标放电间隙。

4.如权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，在获得所述第一目标放电间隙和所述第二目标放电间隙之后，所述方法还包括：

获取每个关联电极的所述第一方向的第一放电间隙和所述第二方向的第二放电间隙，所述关联电极为作用于所述待调整电极对应的放电加工面的电极；

基于目标电极集合中每个目标电极的所述第一方向的放电间隙，确定所述待调整电极的所述第一方向的第三目标放电间隙，所述目标电极集合包括所述关联电极和所述待调整电极；

基于每个所述目标电极的所述第二方向的放电间隙，确定所述待调整电极的第二方向的第四目标放电间隙。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，基于目标电极集合中每个目标电极的所述第一方向的放电间隙，确定所述待调整电极的所述第一方向的第三目标放电间隙，包括：

根据每个所述目标电极的所述第一方向的放电间隙，计算所述目标电极集合的放电间隙的第五平均值；

计算所述目标电极的编号的第六平均值，并计算每个所述目标电极的编号和所述第六平均值之间的第五差值；

针对每个所述目标电极，计算所述目标电极的所述第一方向的放电间隙和所述第五平均值之间的第六差值后，将所述第五差值和所述第六差值相乘，得到所述目标电极的第五乘积；

将每个所述目标电极的所述第五乘积相加，得到第五相加和，并将每个所述目标电极的第五差值的平方相加，得到第六相加和；

将所述第六平均值和所述第五相加和相乘，得到第六乘积，并计算所述第六乘积和所述第六相加和的第三比值；

将所述第五平均值和所述第三比值相减，得到所述第三目标放电间隙。