[发明专利]一种电缆缓冲层体积电阻率测量装置、评估方法及系统

权利要求书

1.一种电缆缓冲层体积电阻率测量装置，其特征在于，包括：

第一电极；

第二电极，所述第二电极设置在所述第一电极的上方，用于将待测电缆缓冲层试样的待测点夹设在所述第一电极和所述第二电极之间；

托盘，设置在所述第二电极的上方；

配重件，设置在所述托盘上，用于调整所述托盘、所述配重件和所述第二电极的总质量，使其与待测电缆缓冲层试样所属电缆的轧纹节距质量相匹配；

电源模块，两端分别与所述第一电极、所述第二电极相连接，用于施加直流电压至所述第一电极和所述第二电极上，以使所述电源模块、所述第一电极、所述第二电极和所述待测点形成测试回路；

测试模块，其与所述测试回路相连接，用于测量所述待测点处的体积电阻，以确定所述待测点处的体积电阻率。

2.根据权利要求1所述的电缆缓冲层体积电阻率测量装置，其特征在于，

所述第二电极的外周套设有呈环形结构的保护电极。

3.根据权利要求2所述的电缆缓冲层体积电阻率测量装置，其特征在于，

所述电源模块的负极和/或所述保护电极接地设置。

4.根据权利要求1至3任一项所述的电缆缓冲层体积电阻率测量装置，其特征在于，所述测试模块包括：

电压表，用于获取所述第一电极和所述第二电极之间的电压值；

电流表，用于获取所述测试回路的电流值；

处理单元，用于根据所述待测点两端的电压值以及所述测试回路的电流值，确定所述待测点的体积电阻。

5.根据权利要求1至3任一项所述的电缆缓冲层体积电阻率测量装置，其特征在于，所述配重件为砝码。

6.一种电缆缓冲层评估方法，其特征在于，包括：

从电缆缓冲层上截取待测样品，并将待测样品裁剪为m条待测电缆缓冲层试样；

获取待测电缆缓冲层试样所属电缆的轧纹节距质量；

在每条待测电缆缓冲层试样上选取n个待测点，并对各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点进行厚度的测量，以获得各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点的厚度；

根据待测电缆缓冲层试样所属电缆的轧纹节距质量，调节如权利要求1至5任一项所述的电缆缓冲层体积电阻率测量装置的配重件，并采用配重件调节后的电缆缓冲层体积电阻率测量装置对各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点进行体积电阻的测量，获得各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点的体积电阻；

根据各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点的厚度以及体积电阻，确定待测样品的检验临界值，并将待测样品的检验临界值与显著性检验标准值进行比较，结合待测样品的体积电阻率总平均值，确定电缆缓冲层是否合格。

7.根据权利要求6所述的电缆缓冲层评估方法，其特征在于，其中根据各条待测电缆缓冲层试样的各个待测点的厚度以及体积电阻，确定待测样品的样品内均方和样品间均方，包括：

根据各个待测点的厚度以及体积电阻，确定各个待测点的体积电阻率；

根据各个待测点的体积电阻率，确定各条待测电缆缓冲层试样的体积电阻率平均值；

根据各条待测电缆缓冲层试样的体积电阻率平均值，确定待测样品的体积电阻率总平均值；

根据待测样品的体积电阻率总平均值，确定待测样品的样品内平方和以及样品间平方和；

根据待测样品的样品内平方和以及样品间平方和，确定待测样品的样品内均方和样品间均方；

根据待测样品的样品内均方和样品间均方，确定待测样品的检验临界值。

8.根据权利要求7所述的电缆缓冲层评估方法，其特征在于，所述待测点的体积电阻率的计算公式为：

其中，ρ_i为待测电缆缓冲层试样中第i个待测点的体积电阻率，i＝1，2，…，n；R_i为待测电缆缓冲层试样中第i个待测点的体积电阻；t_i为待测电缆缓冲层试样中第i个待测点的厚度；A为第二电极的横截面面积。