[发明专利]一种基于均方根误差的光学星上处理目标定位精度评估方法有效
申请号: | 202111593209.X | 申请日: | 2021-12-23 |
公开(公告)号: | CN114383632B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 吴志刚;刘锋;孙鹏博;周鑫;胡晓宁;宛雄丰 | 申请(专利权)人: | 北京市遥感信息研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 王迪 |
地址: | 100192 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 方根 误差 光学 处理 目标 定位 精度 评估 方法 | ||
1.一种基于均方根误差的光学星上处理目标定位精度评估方法,其特征在于,所述方法包括:
提取遥感卫星星上处理目标切片中心点坐标;
将提取的目标切片中心点坐标作为该目标位置坐标,并形成第一数据集;
提取同一颗遥感卫星同时获取的地面处理相同目标中心点坐标,形成第二数据集,第二数据集的定位精度是已知的;
确定目标切片中心点坐标与目标中心点坐标的纵向误差和横向误差;
根据星上处理目标切片与同时获取的相应地面处理目标为同一目标的关系,确定纵向误差和横向误差的均方根误差;
根据第二数据集的定位精度和均方根误差,评估第一数据集的定位精度,第一数据集的定位精度为星上处理目标定位精度;
其中,确定目标切片中心点坐标与目标中心点坐标的纵向误差和横向误差,包括:
根据第一数据集和第二数据集,计算目标切片中心点坐标与目标中心点坐标的坐标经度误差和坐标纬度误差,目标切片中心点坐标、目标中心点坐标包括经度和纬度;
基于地球平均半径将坐标经度误差和坐标纬度误差转化为对应的坐标长度误差;
根据光学遥感卫星与目标的相对位置关系,以及坐标长度误差,计算目标切片中心点的点位误差ΔEi及方位角Ai,计算公式为:为坐标经度误差的坐标长度误差,为坐标纬度误差的坐标长度误差;
将目标切片中心点的点位误差沿卫星飞行方向和垂直卫星飞行方向进行分解,得到纵向偏差ΔEVi和横向偏差ΔEHi,计算公式为:
α为成像时卫星偏航角,β为星下点轨迹与正北方向夹角;
计算选取的n个目标切片中心点的纵向偏差和横向偏差的平均值,得到纵向误差和横向误差,n大于1。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,第二数据集的定位精度是卫星在轨性能鉴定试验或在轨测试期间通过地面测试得到的。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,计算目标切片中心点坐标与目标中心点坐标的坐标经度误差Δλi和坐标纬度误差Δφi的计算公式为:
目标切片中心点坐标包括经度λYi和纬度φYi,目标中心点坐标包括经度λXi和纬度φXi,i∈[1,n]。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,将坐标经度误差和坐标纬度误差转化为对应的坐标长度误差的计算公式为:
Re为地球平均半径,为坐标经度误差的坐标长度误差,为坐标纬度误差的坐标长度误差。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,计算选取的n个目标切片中心点的纵向偏差和横向偏差的平均值的计算公式为:
ΔEH为纵向误差,ΔEV为横向误差。
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