[发明专利]一种PCB通孔检测设备

权利要求书

1.一种PCB通孔检测设备，用于对电路板作通孔检测，待检测的电路板上设有通孔，所述通孔检测的内容为检测所述通孔是否符合预设的条件，其特征在于，所述PCB通孔检测设备包括：

基台，其上设置有上料位置和检测位置；

光学检测装置，其架设在所述基台的检测位置上方；

工作平台，其包括底部平台和上盖，所述工作平台可滑动地设置在所述基台的滑轨上，所述上盖由透明材质制成，所述上盖与所述底部平台枢转连接；

升降机构，其包括支承板、第一动力机构和升降臂，其中，所述支承板固定在所述基台上，在第一动力机构的驱动下，所述升降臂相对于所述支承板发生转动；所述第一动力机构为气缸，其一端固定在所述支承板的前部下表面，其另一端向后延伸；所述升降臂的前端枢转设置在支承板上方，其后端向后延伸；所述支承板上设有穿孔，所述导杆式气缸的另一端通过穿过所述穿孔的弧形臂与所述升降臂的中部连接；所述支承板设置在所述底部平台的侧边下方区域，所述对接组件设置在所述上盖的边框下侧，所述升降臂设置在所述对接组件的下方；

所述工作平台被配置为能够沿着所述滑轨在所述上料位置与检测位置之间移动，所述上盖的边框上设有与所述升降臂配合的对接组件，当所述工作平台位于上料位置，且所述第一动力机构驱动升降臂向上转动时，所述升降臂推动所述对接组件，以使所述上盖相对于底部平台向上翻转。

2.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述检测位置设置在所述基台台面的后部，所述上料位置设置在所述基台台面的前部；

所述上盖与底部平台之间的枢转轴设置在所述上盖的后部或左部或右部。

3.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述对接组件在底部平台所在平面上的投影与所述底部平台不发生重合。

4.根据权利要求3所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述对接组件设置在所述上盖的一侧，或者，所述上盖相对设置的两侧均设有所述对接组件；

每个对接组件包括两个相对设置的限位片及设置在两个限位片之间的滑动轴，且两个限位片之间具有收容部分升降臂的空间，在所述第一动力机构驱动升降臂向上转动时，所述升降臂与所述滑动轴接触。

5.根据权利要求3或4所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述升降臂的一端与所述支承板转动连接，其另一端部上设有勾子结构。

6.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述底部平台包括玻璃层及设置在所述玻璃层下方的匀光层和背光源板，其中，所述背光源板设置在所述匀光层的下方；

所述玻璃层的至少一侧设有向内凹进的避让结构，所述底部平台上对应所述避让结构的区域设有一个或多个吸嘴，所述吸嘴的上表面与所述玻璃层的上表面齐平。

7.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，还包括两个以上锁定机构，每个锁定机构包括第二动力机构、锁舌部和锁孔部，其中所述第二动力机构和锁舌部设置在所述底部平台上，所述锁孔部设置在上盖上；

当所述上盖扣合在底部平台上时，所述锁舌部与所述锁孔部的孔口相对，且所述第二动力机构被配置为驱动所述锁舌部伸入所述锁孔部。

8.根据权利要求7所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述锁孔部包括至少一个在远离锁舌部的方向上具有向内收紧趋势的表面，所述锁定机构被配置为在所述锁舌部伸入锁孔部内之后，所述锁舌部与所述具有向内收紧趋势的表面相抵。

9.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述底部平台为矩形结构，所述底部平台上相邻两侧设有浮动PIN座，所述浮动PIN座包括Pin柱及设置在所述Pin柱下方的弹性件，当所述弹性件处于自然状态时，所述Pin柱的上表面高度高于所述底部平台的上表面高度；

当所述上盖扣合在底部平台上时，所述上盖抵压Pin柱以使所述弹性件处于被压缩状态。

10.根据权利要求1所述的PCB通孔检测设备，其特征在于，所述上盖与底部平台之间的枢转连接部件为浮动式翻转轴。