[发明专利]一种模糊图像的复原方法、装置及设备在审
申请号: | 202111583737.7 | 申请日: | 2021-12-22 |
公开(公告)号: | CN114723616A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 李郁峰;田二明;张权;韩慧妍;李晓;李永红;肖宇 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京环宇致诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11948 | 代理人: | 张洋;脱雅静 |
地址: | 030051*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模糊 图像 复原 方法 装置 设备 | ||
1.一种模糊图像的复原方法,其特征在于,该方法包括:
从设定的光路组件中采集在第一场景下成像的第一条纹信息,并将所述第一条纹信息转化为用于表示在第一场景下感光场强度的第一电信号;所述第一场景为光路组件中参考光和物光透射散射介质干涉后照射在成像的场景;所述物光是光线透射目标物后携带所述目标物信息的光波;
获得设定的第二电信号以及从所述第二电信号过滤得到的参考光振幅,其中,所述第二电信号为从所述光路组件中采集在第二场景下成像的第二条纹信息、并经对所述第二条纹信息转换后的电信号,所述第二场景为光路组件中仅参考光透过所述散射介质后成像的场景;
计算所述第一电信号和所述第二电信号的比值,并依据所述比值以及所述参考光振幅,从所述第一电信号中去除所述电路组件中散射介质衍射干扰的干扰信息,得到用于表示在所述光路组件中未射入散射介质前的干涉光场的电信号,以复原所述目标物在光路组件中无所述散射介质干扰下成像的纹理信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光路组件包括:
第一分光器,用于将外部激光器发射的光束分成作为参考光的第一光线和用于透过目标物作为物光的第二光线;
第一反射镜,置于所述第一分光器射出参考光的一侧,用于将参考光反射入第二分光器;
第二反射镜,置于所述第一分光器射出第二光线的一侧,用于将第二光线反射入所述目标物后形成物光,并使得所述物光全部射入所述散射介质中;
第二分光器,置于所述目标物的一侧,用于对射入的参考光进行分束以射入散射介质;
透镜,置于所述散射介质的一侧,用于将散射介质中同一区域发生干涉的光线汇聚成像;
光电传感器件,置于所述透镜的一侧,用于显示干涉条纹形成的图像。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二条纹信息按照如下步骤采取:
遮挡所述光路组件中的目标物,使得射入所述目标物之后射出的物光波被遮挡住,以从所述光路组件中在所述第二场景下采集仅参考光透过所述散射介质后成像的第二条纹信息。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述比值以及所述参考光振幅,从所述第一电信号中去除所述电路组件中散射介质衍射干扰的干扰信息,得到用于表示在所述光路组件中未射入散射介质前的干涉光场的电信号,包括:
按照如下表达式得到用于表示在所述光路组件中未射入散射介质前的干涉光场的电信号I(x,y):
所述表达式为:
其中,x为光电传感器件上入射面的横坐标,y为光电传感器件上入射面的纵坐标,H1(x,y)为光电传感器件上记录在第一场景下感光场强度的第一电信号;Δx为光电传感器件在横坐标上的像元尺寸,Δy为光电传感器件在纵坐标上的像元尺寸,comb(.)为梳状函数,t1(x,y)为当前时刻光电传感器件经参考光和物光透射散射介质干涉后的感光面上的曝光模型,t1(x,y)=t0+β[τI1(x,y)],t0为均匀透光率,β为曝光斜率,τ为曝光时间,I1(x,y)为光路组件在第一场景下的光场强度;H2(x,y)为光电传感器件上记录在第二场景下感光场强度的第二电信号;t2(x,y)为当前时刻光电传感器件感光面上振幅透过率函数,t2(x,y)=t0+β[τI2(x,y)],I2(x,y)为光路组件在第二场景下的光场强度。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光电传感器件为CMOS传感器或CCD相机。
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