[发明专利]基于热胀系数反求的测量基准偏差修正方法有效

专利信息
申请号: 202111569796.9 申请日: 2021-12-21
公开(公告)号: CN114370826B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 张洋;李俊卿;高昌勇;闫天宇;郑研;逯永康;刘巍;周孟德 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 基于 热胀 系数 测量 基准 偏差 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于热胀系数反求的测量基准偏差修正方法,其特征是,该方法首先对工装局部结构进行主动温控,并同步测量温度和基准点坐标;其次重建温度场函数,并基于温度和基准点坐标偏移间的映射关系反求最优热胀系数;然后在实际工况下,基于温度测量数据和反求的最优热胀系数,采用比例缩放法修正基准点坐标;最后以最小二乘法建立测量坐标系与数模坐标系间的转换关系,求解基准修正前后的转换误差;该方法的具体步骤如下:

第一步,主动温控下的温度-坐标同步测量

在工装上放置两个激光跟踪仪靶球,分别作为基准点A和基准点B,在两点之间布设m个温度传感器,然后使用加热装置对工装进行加热,通过温度传感器获取tj,j=1,2,…n时刻的温度数据集TEMPj

TEMPj=[T(x1,tj) T(x2,tj)…T(xi,tj)…T(xm,tj)]T (1)

式中,xi,i=1,2,…m为温度传感器的位置,tj,j=1,2,…n为温度数据的采样时刻,T(xi,tj)为第i个温度传感器在tj时刻测的温度值;

温度传感器测量的同时,使用激光跟踪仪连续测量基准点A和基准点B的空间坐标,按照公式(2)计算加热过程中基准点A和基准点B间距离变化数据集DELT:

式中,和分别为基准点A和基准点B在tj时刻测得的坐标值;

第二步,温度场重建与热胀系数反求

在tj时刻,求解式(3)所示的最小二乘方程,对温度数据进行拟合,重建此时刻的温度场函数f(x,tj):

tj时刻,计算在温度场f(x,tj)作用下基准点B相对基准点A的偏移量为:

式中,α为工装材料的热胀系数,为待求参数;

计算n个温度场函数与t1时刻温度场函数差的积分:

由公式(4)可知DELT与INT_TEMP间是线性关系,比例系数即为热胀系数,因此建立线性回归模型以求解最优热胀系数αbest

DELT=αbest×INT_TEMP+b (6)

第三步,基于比例缩放法的基准点偏差修正

在飞机构件装配的实际工况下,假设温度传感器在tn+1时刻测量的工装温度值为:

TEMPn+1=[T(x1,tn+1) T(x2,tn+1)…T(xm,tn+1)] (7)

同时,激光跟踪仪测得基准点A坐标为基准点B的坐标为计算基准点B相对基准点A的偏差为:

式中,αbest为根据公式(6)求得的最优热胀系数,f(x,tn+1)为tn+1时刻的温度场函数;Tnom为假设不发生热变形的参考温度值,为20℃;

Ln+1为基准点A和基准点B间的距离:

计算基准点B相对基准点A的比例缩放系数:

则修正后的基准点B坐标为:

第四步,测量基准与数模基准转换偏差计算

使用激光跟踪仪测量工装上N个基准点的坐标,获得坐标集S:

采用所述第一步~第三步的方法,获得修正后的坐标集Sc

上述N个基准点在工装数模坐标系中的坐标集为:

建立如公式(15)所示的最小二乘模型,求解测量坐标系和数模坐标系间的基准转换参数:旋转矩阵R和平移向量T,并计算修正前的基准转换偏差E:

E=||D-(R×S+T)|| (16)

式中,S(k)和D(k)分别表示测量坐标集S和D中第k列向量;

同理,以公式(13)中修正后的坐标集Sc替换公式(15)中的坐标集S,计算测量基准修正后的基准转换偏差Ec

Ec=||D-(Rc×Sc+Tc)|| (18)

由公式(18)计算出测量基准修正后的基准转换偏差Ec

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