[发明专利]一种验证板、测试系统及测试方法

说明书

本发明提供了一种验证板、测试系统及测试方法，该验证板包括电路板。电路板上设置有接口、系统控制单元、PWM发生器、功率器件、采样电路。第一接口与待测VID电源管理接口连接。系统控制单元接收测试指令并生成电压调节数据。PWM发生器接收电压调节数据并产生驱动波形。功率器件接收驱动波形并产生输出电压。采样电路采集功率器件输出的电压数据；系统控制单元将电压数据通过接口传输出去。将VID电源管理通信协议控制器的行为代码放入系统控制单元环境中，通过编程去适配不同VID电源管理通信协议控制器的行为，达到验证多种VID电源管理接口性能的目的。以对VID电源管理接口的性能进行验证，确保高性能芯片能够在高频率、高性能条件下保持正常工作。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种验证板、测试系统及测试方法。

背景技术

随着科学技术的发展，市场对处理器的性能要求越来越高。为了提高处理器的性能，需要在处理器中集成更多的晶体管，从而使集成在处理器中晶体管的数量规模越来越大。随着处理器中晶体管的数量增加，使处理器中的时钟频率也越来越高，导致处理器的功耗越来越大。动态电压切换速率直接影响时钟频率，从而对动态电压切换速率的要求也就越来越快。VID(Voltage Identification Signal，电压识别信号，一种电压识别和调控技术)电源管理接口的性能直接反映动态电压切换速率，因此对给处理器供电的VID电源管理接口的性能要求也越来越高。而目前对电源管理接口进行测试的方式还主要是采用焊盘和引线焊接连接的方式，每个测试系统只针对一种类型的电压管理接口，从而不仅造成体积较大，而且也不能够满足对动态电压切换速率较快的VID电源管理接口进行测试的要求。

发明内容

本发明提供了一种验证板、测试系统及测试方法，以充分并有效地对VID电源管理接口的性能进行验证，确保诸如处理器等的高性能芯片能够在高频率、高性能的条件下保持正常工作。

第一方面，本发明提供了一种验证板，该验证板用于测试VID电源管理接口，该验证板包括一个电路板。在电路板上设置有接口，接口至少包含用于与待测VID电源管理接口连接的第一接口。在电路板上还设置有系统控制单元、PWM发生器、由MOS管组成的功率器件、采样电路。其中，系统控制单元与接口连接，以接收外部传输的测试指令，并根据测试指令生成电压调节数据。PWM发生器与系统控制单元连接，以接收电压调节数据，并根据电压调节数据产生驱动波形。功率器件与PWM发生器连接，以接收驱动波形，并根据驱动波形产生输出电压。采样电路与功率器件连接，以采集功率器件输出的电压数据；且采样电路还与系统控制单元连接，以将电压数据传输给系统控制单元，由系统控制单元将电压数据通过接口传输出去。

在上述的方案中，通过在一个电路板上集成系统控制单元、PWM发生器、由MOS管组成的功率器件、采样电路和接口，形成验证板，使待测VID电源管理接口与第一接口连接，将测试指令输入到系统控制单元中，由验证板对测试指令进行响应，从而产生输出电压，由采样电路捕获到电压数据，并将电压数据传输出去，由外部根据测试指令和电压数据进行比对，以确认每个待测VID电源管理接口能否通过验证。即将VID电源管理通信协议控制器的行为代码放入系统控制单元环境中，通过编程去适配不同VID电源管理通信协议控制器的行为，达到验证多种VID电源管理接口性能的目的。以充分并有效地对VID电源管理接口的性能进行验证，确保诸如处理器等的高性能芯片能够在高频率、高性能的条件下保持正常工作。且通过将系统控制单元、PWM(Pulse Width Modulation，脉冲宽度调制)发生器、由MOS管(MOSFET的简称，金氧半场效晶体管)组成的功率器件、采样电路都集成在一个电路板上，能够根据需求灵活配置，为不同类型的VID电源管理接口进行验证，从而实现一个验证板验证多个不同类型的VID电源管理接口，能够减小测试工具的体积，缩短对测试指令响应反馈的时间，满足对动态电压切换速率较快的VID电源管理接口进行测试的要求。