[发明专利]一种雷达天线盖的平面度检测设备及检测方法

权利要求书

1.一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，包括：

机架；

测试治具，设置在所述机架上，用于安装待测天线盖；

三轴运动机构，设置在所述机架上，且位于所述测试治具上方；

高度测量组件，设置在所述三轴运动机构上，用于测量所述待测天线盖表面不同位置的高度值。

2.根据权利要求1所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述三轴运动机构包括X轴平台、Y轴导轨和Z轴平台，所述X轴平台上设有X轴导轨，所述X轴平台可移动地设置在所述Y轴导轨上，所述Z轴平台可移动地设置在所述X轴导轨上；

所述高度测量组件沿Z轴方向可移动地设置在所述Z轴平台上。

3.根据权利要求1或2所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述高度测量组件包括沿Z轴方向由下至上依次连接的测量头、传动感应器和位移量测仪；

所述测量头用于与所述待测天线盖接触，所述测量头伸缩时带动所述传动感应器移动；

所述位移量测仪，用于测量所述传动感应器的位移。

4.根据权利要求3所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述高度测量组件还包括安装板，所述安装板可移动地设置在所述三轴运动机构的Z轴平台上，所述测量头、所述传动感应器和所述位移量测仪分别设置在所述安装板上。

5.根据权利要求1所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，还包括设备校正块，所述设备校正块设置在所述测试治具的一侧，用于校正所述高度测量组件。

6.根据权利要求5所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述设备校正块的顶部沿X轴方向依次设有第一台阶部、第二台阶部和第三台阶部，所述第一台阶部的高度大于所述第三台阶部的高度，所述第三台阶部的高度大于所述第二台阶部的高度。

7.根据权利要求1所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述测试治具上设有用于与待测天线盖上的定位孔相适配的定位柱。

8.根据权利要求7所述的一种雷达天线盖的平面度检测设备，其特征在于，所述测试治具上设有用于吸附待测天线盖的磁吸件和真空吸附孔。

9.一种雷达天线盖的平面度检测方法，其特征在于，包括：

将待测天线盖安装在测试治具上；

通过三轴运动机构移动高度测量组件至待测天线盖的多个预设位置点，并测量多个预设位置点的高度值；

根据多个预设位置点的高度差，检测待测天线盖的平面度。

10.根据权利要求9所述的一种雷达天线盖的平面度检测方法，其特征在于，所述将待测天线盖安装在测试治具上之前还包括：

通过设备校正块校正高度测量组件的测试精度；

通过三轴运动机构移动高度测量组件至测试治具的不同位置，并测量测试治具不同位置的高度值；

根据测试治具不同位置的高度值校正测试治具的安装精度。