[发明专利]空心阴极发射体组件气密性测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111563012.1 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114323488A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 董思远;张岩;王亚楠;乔彩霞;陈庆;夏启蒙;孙江宏 申请(专利权)人: 上海空间推进研究所
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 祁春倪
地址: 201112 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 空心 阴极 发射 组件 气密性 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,包括:气密工装(1)、空心阴极发射体组件(2)、配气系统(3)、供气阀(5)、气压表(6)以及测试设备,其中:

所述气密工装(1)安装在空心阴极发射体组件(2)上;

配气系统(3)通过供气管路对空心阴极发射体组件(2)供气;

测试设备对供气的空心阴极发射体组件(2)进行气密性测试;

所述供气管路上设置有供气阀(5)和气压表(6)。

2.根据权利要求1所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,所述测试设备包括检漏仪(4)和/或无水乙醇槽(7)。

3.根据权利要求1所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,所述气密工装(1)包括保护帽、压紧盖以及转接帽,其中:

所述转接帽旋拧在保护帽上;

所述转接帽设置有容纳压紧盖的内腔,所述压紧盖设置在转接帽的内腔中,转接帽旋拧保护帽进行调节气密工装(1)和空心阴极发射体组件(2)的压紧程度。

4.根据权利要求3所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,所述压紧盖的端部还设置有密封圈,气密工装(1)和空心阴极发射体组件(2)之间通过密封圈过渡配合。

5.根据权利要求2所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,所述检漏仪本底漏率优于1×10-8Pa。

6.根据权利要求1所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置,其特征在于,测试设备的测试气体采用氮气、氦气或氙气。

7.一种基于权利要求1-6任一项所述的空心阴极发射体组件气密性测试装置的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S1:将气密工装安装在空心阴极发射体组件上,气密工装连接供气管路;

步骤S2:开启配气系统为空心阴极发射体组件冲入表压0.1~0.3Mpa氮气、氦气或氙气,关闭供气阀门,静置1~2min观察气压表气压有无明显下降,若明显下降则重新安装气密测试工装再次充气静置观察;

步骤S3:使用检漏仪对所需测试焊缝进行漏率测试;

步骤S4:若检漏结果不满足要求,通入氮气、氦气或氙气,不关闭供气阀门保持持续供气,将空心阴极发射体置于无水乙醇槽中观察焊缝附近漏气情况。

8.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,检漏测试使用气体为氦气。

9.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,通入氮气、氦气或氙气的压强为0.1~0.3Mpa。

10.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,检漏仪本底漏率优于1×10-8Pa。

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