[发明专利]N位模数转换器的检测方法

说明书

一种N位模数转换器的检测方法，所述检测方法包括：根据待测N位模数转换器静态积分非线性误差要求选择连续的M位待测位，其中M位待测位中至少一位为非精确位，并确定所述M位待测位的积分非线性误差的判定条件，其中M，N为的正整数，且M＜N；对所述M位待测位进行积分非线性误差测试；响应于测得的积分非线性误差满足所述判定条件，则确认所述N位模数转换器合格，响应于测得的积分非线性误差不满足所述判定条件，则确认所述N位模数转换器不合格。

技术领域

本公开涉及集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种N位模数转换器的检测方法。

背景技术

模数转换器(Analog-to-Digital Convertor)即A/D转换器，简称ADC，通常是指将模拟信号转换为数字信号的芯片。针对这类芯片进行性能测试，主要包括动态参数如信噪比(SNR)、谐波失真(THD)，静态参数如差分非线性误差(DNL)、积分非线性误差(INL)等。

测试模数转换器是最具有挑战性的任务之一，而模数转换器的差分非线性误差(DNL)和积分非线性误差(INL)是用来描述模数转换器静态特性中每一个转换编码正确性的参数，在各个应用领域中都有非常重要的作用。过长测试时间和昂贵的测试仪器使得测试高精度模数转换器的静态特性成为一项难度大、成本高的工作。

发明内容

本公开一些实施例提供一种N位模数转换器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

根据待测N位模数转换器静态积分非线性误差要求选择连续的M位待测位，其中M位待测位中至少一位为非精确位，并确定所述M位待测位的积分非线性误差的判定条件，其中M，N为的正整数，且M＜N；

对所述M位待测位进行积分非线性误差测试；

响应于测得的积分非线性误差满足所述判定条件，则确认所述N位模数转换器合格，响应于测得的积分非线性误差不满足所述判定条件，则确认所述N位模数转换器不合格。

在一些实施例中，根据待测N位模数转换器静态积分非线性误差要求选择连续的M位待测位，其中M位待测位中至少一位为非精确位，并确定所述M位待测位的积分非线性误差的判定条件包括；

根据待测N位模数转换器静态积分非线性误差要求确定N位中从低到高的第1至J位为非精确位；

自第J-I位开始顺序选取M为作为待测位，其中第J-I位至第J位作M位待测位中的非精确位，其中J为正整数，I为自然数，且I＜J＜N，并且I＜M；以及

确定所述M位待测位的积分非线性误差的判定条件为：

INL_M(2^I+1-1)LSB_M

其中，INL_M为所述M位待测位的积分非线性误差，LSB_M为M位待测位的最低有效位。

在一些实施例中，对所述M位待测位进行积分非线性误差测试包括：

采用具有预定频率的直流线性斜波电压对所述N位模数转换器的所述M位待测位进行积分非线性误差测试，其中，所述斜波电压的电压范围为0～V_M，其中，V_M＝2^M+J-I-1/2^N·V_N，其中,V_N为N位模数转换器的满量程电压。

在一些实施例中，对所述M位待测位进行积分非线性误差测试包括：