[发明专利]一种基于dToF的探测系统及其光源调整方法在审

专利信息
申请号: 202111556359.3 申请日: 2021-12-17
公开(公告)号: CN114236504A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 金宇 申请(专利权)人: 奥诚信息科技(上海)有限公司
主分类号: G01S7/483 分类号: G01S7/483;G01S17/08
代理公司: 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 代理人: 冷仔
地址: 201210 上海市中国(上海)自*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 dtof 探测 系统 及其 光源 调整 方法
【权利要求书】:

1.一种基于dToF的探测系统的光源调整方法,其特征在于,包括:

控制发射器中的工作光源按照第一光强朝目标物发射斑点光束;

同步激活采集器中的工作像素用于接收被所述目标物反射回的至少部分所述斑点光束并生成光子检测事件的检测参数,所述光子检测事件为所述工作像素响应于光子的入射而输出光子检测信号的事件;

根据所述检测参数自适应调整所述工作光源的所述第一光强;

其中,所述检测参数包括:所述工作像素的灰度值、直方图中各时间间隔对应值的最大值或平均值。

2.如权利要求1所述的光源调整方法,其特征在于,所述工作像素的灰度值为所述光子检测事件的统计数量。

3.如权利要求1所述的光源调整方法,其特征在于,所述根据所述检测参数调整所述工作光源的所述第一光强,包括:

根据所述检测参数确定所述工作光源的驱动电流变化值,根据驱动电流初始值和所述驱动电流变化值确定当前驱动电流,控制所述工作光源按照所述当前驱动电流开启,所述驱动电流初始值为所述第一光强对应的驱动电流。

4.如权利要求3所述的光源调整方法,其特征在于,所述根据所述检测参数确定所述工作光源的驱动电流变化值,包括:

根据公式ΔI=a(Ctg-Cn)+b计算驱动电流变化值ΔI,其中,a和b为系数,Ctg为目标光子数,Cn为所述检测参数。

5.如权利要求3所述的光源调整方法,其特征在于,根据驱动电流初始值根据和所述驱动电流变化值确定当前驱动电流,包括:

根据公式In=Ibase+ΔI计算当前驱动电流In,其中,Ibase为驱动电流初始值,ΔI为驱动电流变化值。

6.一种基于dToF的探测系统,其特征在于,包括:发射器,采集器,以及控制和处理电路,

所述发射器配置为开启工作光源按照第一光强朝目标物发射斑点光束;

所述采集器配置为激活工作像素接收被所述目标物反射回的至少部分所述斑点光束并生成光子检测事件的检测参数,所述光子检测事件为所述工作像素响应于光子的入射而输出光子检测信号的事件;

所述控制和处理电路配置为根据所述检测参数调整所述工作光源的所述第一光强;

其中,所述检测参数包括:所述工作像素的灰度值、直方图中各时间间隔对应值的最大值或平均值。

7.如权利要求6所述的基于dToF的探测系统,其特征在于,所述采集器包括多个像素组成的像素阵列和多个读出电路组成的读出电路阵列,所述像素与所述读出电路一一对应连接,所述工作像素响应于光子的入射而输出光子检测信号的事件为光子检测事件,所述读出电路用于生成所述光子检测事件的检测参数。

8.如权利要求7所述的基于dToF的探测系统,其特征在于,所述读出电路包括计数电路,所述计数电路用于统计所述工作像素的所述光子检测事件的统计数量;所述控制和处理电路配置为将所述统计数量作为检测参数。

9.如权利要求7所述的基于dToF的探测系统,其特征在于,所述读出电路包括TDC电路和直方图电路,所述TDC电路用于根据所述工作像素输出的光子检测信号生成时间信号,所述直方图电路用于根据所述时间信号生成直方图;所述控制和处理电路配置为将所述直方图中各时间间隔对应值的最大值作为检测参数,或,配置为计算所述直方图中各时间间隔对应值的平均值作为检测参数。

10.如权利要求6所述的基于dToF的探测系统,其特征在于,所述控制和处理电路根据所述检测参数确定所述工作光源的驱动电流变化值,根据驱动电流初始值和所述驱动电流变化值确定当前驱动电流,控制所述工作光源按照所述当前驱动电流开启,所述驱动电流初始值为所述第一光强对应的驱动电流。

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