[发明专利]用于对塑封器件进行湿气检测的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111537283.X 申请日: 2021-12-15
公开(公告)号: CN114441515A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 史振亮;冯慧;董晓晨;王冲;张楠 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 陈莉
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 塑封 器件 进行 湿气 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于对塑封器件进行湿气检测的装置,其特征在于,包括:

参考件,被配置为提供参考数据;

测试件,被配置为提供测试数据及性能数据;

数据采集单元,被配置为对所述参考数据、所述测试数据和所述性能数据进行采集;

分析比对单元,被配置为接收所述数据采集单元采集到的所述参考数据、所述测试数据和所述性能数据进行采集,并进行分析比对以生成检测报告。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述数据采集单元包括视觉采集子单元和性能采集子单元,所述视觉采集子单元被配置为对所述参考数据和所述测试数据进行采集,所述性能采集子单元被配置为对所述性能数据进行采集。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述参考件包括第一基板、第一芯片和第一水汽吸附介质,所述第一芯片和所述第一水汽吸附介质设置于所述第一基板上方,所述第一水汽吸附介质环绕设置在所述第一芯片四周,所述第一基板上方通过塑封材料进行封装。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述测试件包括第二基板、第二芯片和第二水汽吸附介质,所述第二芯片和所述第二水汽吸附介质设置于所述第二基板上方,所述第二水汽吸附介质环绕设置在所述第二芯片四周,所述第二芯片的引脚延伸至所述第二基板外部,所述数据采集单元与所述引脚电连接,所述基板上方通过塑封材料进行封装。

5.根据权利要求4中所述的装置,其特征在于,所述第一基板和所述第二基板为透明基板,所述第一基板和所述第二基板的水汽透过率均低于10-5g/m2day。

6.根据权利要求4中所述的装置,其特征在于,所述第一水汽吸附介质在所述第一芯片四周等间距分布,所述第二水汽吸附介质在所述第二芯片四周等间距分布。

7.根据权利要求4中所述的装置,其特征在于,所述第一基板和所述第二基板的厚度均低于0.5mm。

8.用于对塑封器件进行湿气检测的方法,其特征在于,包括:

对参考件和测试件进行干燥预处理;

分别对经过干燥预处理的所述参考件和所述测试件进行数据采集,以获取初始参考数据、初始测试数据和初始性能数据;

将所述参考件与所述测试件均放置在测试环境中,分别对所述参考件和所述测试件持续进行数据采集,以获取多个第一参考数据、多个第一测试数据和多个第一性能数据;

基于所述多个第一参考数据、所述多个第一测试数据和预设阈值,得到参考湿气扩散时长和测试湿气扩散时长,基于所述多个第一性能数据和性能参数阈值确定所述测试件的失效时长。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,还包括:

将所述参考件和所述测试件从所述测试环境转移至恒温干燥环境中,分别对所述参考件和所述测试件持续进行数据采集,以获取多个第二参考数据、多个第二测试数据和多个第二性能数据;

基于所述多个第二参考数据和所述初始参考数据确定所述参考件的第一恢复时间,基于所述多个第二测试数据和所述初始测试数据确定所述测试件的第二恢复时间,基于所述多个第二性能数据和所述初始性能数据确定所述测试件的性能恢复时间。

10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,基于所述多个参考数据、所述多个测试数据和预设阈值,得到参考湿气扩散时长和测试湿气扩散时长,基于所述多个性能数据和性能参数阈值确定所述测试件的失效时长,包括:

响应于确定其中一个所述参考数据超过所述预设阈值,则将该所述参考数据的获取时刻与将所述参考件转移至所述测试环境中的时刻之间的时长确定为所述参考湿气扩散时长;

响应于确定其中一个所述测试数据超过所述预设阈值,则将该所述测试数据的获取时刻与将所述测试件转移至所述测试环境中的时刻之间的时长确定为所述测试湿气扩散时长;

响应于确定其中一个所述性能数据超过所述预设阈值,则将该所述性能数据的获取时刻与将所述测试件转移至所述测试环境中的时刻之间的时长确定为所述失效时长。

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