[发明专利]一种智能化SMD晶振品控检测专用设备及其工作方法

说明书

本发明公开了一种智能化SMD晶振品控检测专用设备及其工作方法；属于SMD石英晶体振荡器这一技术领域；其技术要点在于：所述X向移动装置用于带动所述第二开盖组件沿着X向移动；所述Y向移动装置用于带动所述第二开盖组件以及X向移动装置沿着Y向移动；第一开盖组件包括，打磨材料固定器、Z向连接固定机构、低目磨石、高目磨石、胶带；低目磨石、高目磨石、胶带设置在打磨材料固定器的下方；第二开盖组件，包括：SMD晶振放置治具；第二开盖组件设置在第一开盖组件的下方。采用本申请的一种智能化SMD晶振品控检测专用设备及其工作方法，能够有效的支持SMD晶振品控检测工作。

技术领域

本发明涉及SMD石英晶体振荡器这一技术领域，更具体地说，尤其涉及一种智能化SMD晶振品控检测专用设备及其工作方法。

背景技术

SMD(Surface Mounted Devices)石英晶体振荡器，其体积非常小。而为了解决品控检测，就必须要对SMD石英晶体振荡器的上盖进行开盖，以便进行检测。

申请人的在先申请：“202111283134.5一种表面贴片式石英晶体振荡器开盖方法”提出了一种磨盖法，解决了上盖打开的问题。

但是，前述的方法一直依赖于人工操作，而人工操作的一大缺点就是：

1)人工的经验，对于开盖的成功率、良品率有非常大的影响；每个人的成功率、良品率有较大的区别。

2)开盖检验的工作量非常大，需要配备较多的人工在这项工作上。

3)新的人工要进行这项工作时，要经过一定的时间才能满足成功率、良品率的要求。

如何解决上述问题，大幅提高SMD晶振上盖开盖的成功率、良品率，是石英晶体振荡器生产企业所面临的一大问题。

发明内容

本发明的目的在于针对上述现有技术的不足，提供一种智能化SMD晶振品控检测专用设备及其工作方法。

本申请的技术方案为：

一种智能化SMD晶振品控检测专用设备，包括：Z向移动装置，X向移动装置，Y向移动装置、第一开盖组件、第二开盖组件、下承载板；

X向、Y向、Z向相互垂直，Z向表示竖直方向，X向、Y向均为水平方向；X向表示打磨方向，Y向表示粗磨-精磨-胶带的方向；

所述Z向移动装置用于驱动所述第一开盖组件上下移动；

所述X向移动装置用于带动所述第二开盖组件沿着X向移动；

所述Y向移动装置用于带动所述第二开盖组件以及X向移动装置沿着Y向移动；

其中，第一开盖组件包括，打磨材料固定器、Z向连接固定机构、低目磨石、高目磨石、胶带；低目磨石、高目磨石、胶带设置在打磨材料固定器的下方；

第二开盖组件，包括：SMD晶振放置治具；

第二开盖组件设置在第一开盖组件的下方。

进一步，所述低目磨石、高目磨石、胶带平行布置在打磨材料固定器的下方，打磨材料固定器在X向的两端设置有L型承接台阶，“低目磨石、高目磨石、胶带”放置于打磨材料固定器的下表面、L型承接台阶之间。

进一步，第二开盖组件还包括：治具固定机构；所述治具固定机构包括：法兰盘以及竖向筒体；所述竖向筒体与SMD晶振放置治具的形状大小适配；

所述SMD晶振放置治具与所述治具固定机构采用可拆卸连接设计：所述治具固定机构501的竖向筒体内表面设置有螺纹，所述SMD晶振放置治具的外表面设置螺纹，所述SMD晶振放置治具与所述治具固定机构之间采用螺纹连接固定。