[发明专利]一种SLM铺粉过程缺陷识别与熔池状态实时监测装置及方法在审
申请号: | 202111505450.2 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN114199893A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 郭伟;王优;李怀学 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/84;G01N21/01 |
代理公司: | 北京圣州专利代理事务所(普通合伙) 11818 | 代理人: | 李春 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 slm 过程 缺陷 识别 熔池 状态 实时 监测 装置 方法 | ||
1.一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,包括加工室,加工室的内部设置有基板,基板的下方设置有成型仓,成型仓的内部设置有活塞,基板上设置有铺粉刮板,其特征在于:所述加工室的外部设置有激光器,成型仓的上方设置有扫描振镜,激光器与扫描振镜之间设置有合束器和扩束器,激光器的激光通过合束器、扩束器和扫描振镜投射在基板上;加工室上设置有铺粉监测部分和熔池监测部分,铺粉监测部分包括工业相机和计算机,工业相机朝向成型仓,工业相机与计算机连接;熔池监测部分包括光电传感器和高速摄像机,光电传感器和高速摄像机的一端分别与分光镜的一支路连接,光电传感器和高速摄像机的另一端均与计算机连接,分光镜位于扫描振镜和扩束器之间。
2.根据权利要求1所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,其特征在于:所述基板的两端分别设置有左储粉室和右储粉室。
3.根据权利要求1所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,其特征在于:所述加工室的外部设置有除尘器,除尘器与加工室的内部连通。
4.根据权利要求1所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,其特征在于:所述加工室的外部设置有气罐,气罐与加工室的内部连通,气罐向加工室的内部充入保护气体。
5.根据权利要求1所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,其特征在于:所述激光器与合束器之间通过光纤连接。
6.根据权利要求1所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置,其特征在于:所述加工室的上方设置有透镜,工业相机位于透镜的正上方。
7.根据权利要求1-6任一项所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置的监测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、接通电源,通入保护气体;
S2、输入工艺参数,启动SLM;
S3、工业相机对铺粉过程进行监测,工业相机通过透镜直接对铺粉前后进行拍摄记录,并将拍摄的图像发送给计算机,实现旁轴监测;
S4、光电传感器对熔池辐射强度进行监测,计算机记录实时熔池辐射强度值,熔融过程中产生光信号,通过扫描振镜内反射镜传递给分光镜,分光镜一支路与光电传感器连接,光电传感器将光信号转换成电信号,电信号为熔池辐射强度信号,并将电信号实时传递给计算机;
S5、高速摄像机对熔池形貌进行监测;熔融过程中产生光信号,通过扫描振镜内反射镜传递给分光镜,分光镜一支路与高速摄像机连接,并将成像信息传递给计算机;
S6、在计算机上进行图像处理;
S7、根据图像处理的结果,判断每层铺粉过程和熔融过程的稳定性。
8.根据权利要求7所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置的监测方法,其特征在于:所述步骤S2中,铺粉刮板将左储粉室或右储粉室内的粉料挂到活塞上的成型板上,完成一次铺粉,激光器通过扫描振镜作用成型后,成型仓内活塞下降一个粉层厚度,进行二次铺粉,循环往复至成型完成。
9.根据权利要求7所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置的监测方法,其特征在于:所述步骤S6中,采用matlab图像处理方法对步骤S3获得的图像和S6获得的成像信息进行处理,处理方法包括:
S61、图像预处理,将步骤S3采集获得的铺粉过程的图片和S6获得的成像信息依次导入matlab系统中,对图像进行灰度化处理,再进行图像增强处理,调整对比度,进而对图像进行滤波处理;
S62、缺陷获取,对图像进行差分处理获取缺陷部分图像,利用形态学原理提取特征区域,采用canny算子对有缺陷特征区域进行边缘检测,基于灰度进行阈值分割获取缺陷特征区域,并对其进行标记。
10.根据权利要求7所述的一种SLM铺粉过程的缺陷识别与熔池状态监测装置的监测方法,其特征在于:所述步骤S7中,若判断铺粉过程和熔融过程正常,继续加工至整个成型件完成,并根据检测信号进行质量追溯;若判断铺粉过程和熔融过程缺陷明显,暂停加工过程,并进行工艺调节。
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