[发明专利]一种温控装置及显示面板的寿命测试方法

说明书

本申请实施例公开了一种温控装置及显示面板的寿命测试方法，温控装置包括基板，其一侧表面设有温度传感器，用以监测基板的实时温度；加热装置，设于基板远离所述温度传感器的一侧表面，加热装置包括半导体加热件。本实施例的有益效果在于，本实施例中的一种温控装置及显示面板的寿命测试方法通过温度传感器实时监测显示面板的温度并监测的温度信号反馈至控制装置，控制装置通过分析温度信号对加热装置下达升温或降温指令，加热装置包括半导体加热件，其具备快速升降温且无极调节温度的技术效果，能够在短时间内调节基板的温度，确保显示面板在测试期间始终处于预设温度范围内，从而精准且高效测试出显示面板在预设温度范围内的寿命。

技术领域

本申请涉及电池领域，具体涉及一种温控装置及显示面板的寿命测试方法。

背景技术

为了检测OLED模组的老化寿命，一般需要对OLED模组在高低温环境下的进行温变老化寿命测试。为了短时间内完成寿命测试，故需采取加速寿命测试的方法。传统的加速寿命测试方法采用老化房的形式，将产品放置在老化房内，利用电热管加热，实现加速老化。

传统老化方法具有升温速度慢，效率低且无法实时监测温度的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种温控装置及显示面板的寿命测试方法，可以解决现有技术的温控装置升温速度慢以及无法实施监测显示面板温度的技术问题。

本申请实施例提供一种温控装置，包括：基板，其一侧表面设有温度传感器，用以监测所述基板的实时温度；

加热装置，设于所述基板远离所述温度传感器的一侧表面，所述加热装置包括半导体加热件。

可选的，在本申请的一些实施例中，显示面板还包括支撑板，设于所述加热装置远离所述基板的一侧表面；散热装置，设于所述支撑板远离所述加热装置的一侧表面。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述散热装置包括散热鳍和散热风扇，所述散热风扇设于所述散热鳍远离所述支撑板的一侧。

可选的，在本申请的一些实施例中，显示面板还包括控制装置，所述温度传感器将监测的温度信号反馈至所述控制装置内，所述控制装置根据所述温度信号的数值控制所述加热装置的升温或降温。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述加热装置还包括加热控制器，用以调节所述半导体加热件的温度。

相应的，本申请实施例还提供一种显示面板的寿命测试方法，包括以下制备步骤：提供一待测试的显示面板；将所述显示面板置于一基板上，所述基板上设有一温度传感器，所述温度传感器贴合至所述显示面板的一侧表面；所述基板远离所述温度传感器的一侧设有加热装置，所述加热装置包括半导体加热件，所述半导体加热件对所述基板进行升温或降温。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述加热装置还包括加热控制器，所述加热控制器和所述温度传感器均与一控制装置连接。

可选的，在本申请的一些实施例中，在所述基板远离所述温度传感器的一侧设有加热装置的步骤之后，还包括以下步骤：通过所述温度传感器监测所述基板温度并将温度信号反馈至控制装置，当所述温度信号超过第一预设温度时，控制装置通过所述加热控制器控制所述半导体加热件降温；当所述温度信号低于第二预设温度时，控制装置通过所述加热控制器控制所述半导体加热件升温。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述温度传感器为贴片式传感器，其一侧表面贴附在所述基板的一侧表面上。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述半导体加热件的温度为-25℃～250℃。