[发明专利]一种温控装置及显示面板的寿命测试方法在审
| 申请号： | 202111485683.0 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114167912A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 邢悦鹏 | 申请（专利权）人： | 苏州华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 汪阮磊 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 温控 装置 显示 面板 寿命 测试 方法 | ||
1.一种温控装置，其特征在于，包括
基板，其一侧表面设有温度传感器，用以监测所述基板的实时温度；
加热装置，设于所述基板远离所述温度传感器的一侧表面，所述加热装置包括半导体加热件。
2.根据权利要求1所述的温控装置，其特征在于，还包括
支撑板，设于所述加热装置远离所述基板的一侧表面；
散热装置，设于所述支撑板远离所述加热装置的一侧表面。
3.根据权利要求2所述的温控装置，其特征在于，
所述散热装置包括散热鳍和散热风扇，所述散热风扇设于所述散热鳍远离所述支撑板的一侧。
4.根据权利要求1所述的温控装置，其特征在于，还包括
控制装置，所述温度传感器将监测的温度信号反馈至所述控制装置内，所述控制装置根据所述温度信号的数值控制所述加热装置的升温或降温。
5.根据权利要求1所述的温控装置，其特征在于，
所述加热装置还包括加热控制器，用以调节所述半导体加热件的温度。
6.一种显示面板的寿命测试方法，其特征在于，包括以下制备步骤：
提供一待测试的显示面板；
将所述显示面板置于一基板上，所述基板上设有一温度传感器，所述温度传感器贴合至所述显示面板的一侧表面；
所述基板远离所述温度传感器的一侧设有加热装置，所述加热装置包括半导体加热件，所述半导体加热件对所述基板进行升温或降温。
7.根据权利要求6所述的显示面板的寿命测试方法，其特征在于，
所述加热装置还包括加热控制器，所述加热控制器和所述温度传感器均与一控制装置连接。
8.根据权利要求7所述的显示面板的寿命测试方法，其特征在于，在所述基板远离所述温度传感器的一侧设有加热装置的步骤之后，还包括以下步骤：
通过所述温度传感器监测所述基板温度并将温度信号反馈至控制装置，当所述温度信号超过第一预设温度时，控制装置通过所述加热控制器控制所述半导体加热件降温；
当所述温度信号低于第二预设温度时，控制装置通过所述加热控制器控制所述半导体加热件升温。
9.根据权利要求6所述的显示面板的寿命测试方法，其特征在于，
所述温度传感器为贴片式传感器，其一侧表面贴附在所述基板的一侧表面上。
10.根据权利要求6所述的显示面板的寿命测试方法，其特征在于，
所述半导体加热件的温度为-25℃～250℃。
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