[发明专利]一种试验模型表面温度的修正方法有效

专利信息
申请号: 202111477526.5 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN113899527B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 冉林;赵照;熊建军 申请(专利权)人: 中国空气动力研究与发展中心低速空气动力研究所
主分类号: G01M9/08 分类号: G01M9/08;G01M9/06;G01K13/00
代理公司: 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 代理人: 张铁兰
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 试验 模型 表面温度 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,所述试验模型上沿所述试验模型的前缘线延伸方向上设置有多个测温区,所述测温区的延伸方向为测温方向,所述测温方向所在的直线与所述前缘线相交,每个测温区沿所述测温方向依次设置有多个测温点,不同测温区上所述测温点在布置方向上与前缘线之间的距离相同,所述布置方向为与所述前缘线的延伸方向垂直的方向,包括如下步骤:

步骤S10:获取每个测温点的温度值,若所述测温点的温度因子不小于预设参数,则所述测温点为失效测温点;若所述测温点的温度因子小于预设参数,则所述测温点为有效测温点;所述温度因子为预设时长内所述测温点温度值的稳定程度;

步骤S20:将参考测温点的温度值作为所述失效测温点的修正温度;所述参考测温点为有效测温区中与所述失效测温点的相对距离相同的测温点,所述相对距离为所述测温点在测温方向上与所述测温方向所在的直线与前缘线交点之间的距离;

所述有效测温区通过失效测温区中的共同有效测温点和其他测温区中的共同有效测温点获得,所述共同有效测温点为所述失效测温区和所述其他测温区中的相对距离相同且均为有效测温点的测温点,所述其他测温区为除失效测温区之外的测温区,所述失效测温区为所述失效测温点所在的测温区。

2.如权利要求1所述的一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,所述温度因子为每个测温点在预设时长内温度值的标准差或方差。

3.如权利要求1所述的一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,所述有效测温区为其他测温区中有效测温点数量最多的测温区。

4.如权利要求1所述的一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,所述有效测温区为平均温差因子最小的测温区,所述平均温差因子为有效温差因子的平均值,所述有效温差因子为所述失效测温区和所述其他测温区中所有共同有效测温点的相对稳定程度。

5.如权利要求4所述的一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,所述有效温差因子为其他测温区中共同有效测温点的温度值与失效测温区中共同有效测温点的平均温度值的标准差。

6.如权利要求1所述的一种试验模型表面温度的修正方法,其特征在于,当参考测温点为有效测温点时,则将参考测温点的温度值作为所述失效测温点的温度值;当参考测温点为失效测温点时,则对有效测温区中所有的有效测温点进行数据拟合,得到参考测温点的温度值,再将参考测温点的温度值作为所述失效测温点的温度值。

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